インテルのみ表示可能 — GUID: mwh1410384527403
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1. システム・デバッグ・ツールの概要
2. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したデザインのデバッグ
3. Signal Probeを使用した迅速なデザイン検証
4. 外部ロジック・アナライザーを使用したインシステム・デバッグ
5. メモリーおよび定数のインシステム変更
6. In-System Sources and Probesを使用したデザインのデバッグ
7. System Consoleを使用したデザインの解析とデバッグ
8. トランシーバー・リンクのデバッグ
9. インテル® Quartus® Primeプロ・エディション ユーザーガイド: デバッグツールのアーカイブ
A. インテル® Quartus® Primeプロ・エディション ユーザーガイド
2.1. Signal Tapロジック・アナライザー
2.2. Signal Tapロジック・アナライザーのタスクフローの概要
2.3. Signal Tapロジック・アナライザーのコンフィグレーション
2.4. トリガーの定義
2.5. デザインのコンパイル
2.6. ターゲットデバイスのプログラム
2.7. Signal Tapロジック・アナライザーの実行
2.8. キャプチャしたデータの表示、解析、および使用
2.9. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したパーシャル・リコンフィグレーション・デザインのデバッグ
2.10. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したブロックベースのデザインのデバッグ
2.11. その他の機能
2.12. デザイン例 : Signal Tapロジック・アナライザーの使用
2.13. カスタム・トリガー・フローのアプリケーション例
2.14. Signal Tapスクリプティングのサポート
2.15. Signal Tapロジック・アナライザーを使用したデザインのデバッグ 改訂履歴
5.1. ISMCEをサポートするIPコア
5.2. In-System Memory Content Editorを使用したデバッグフロー
5.3. デザイン内インスタンスのランタイム修正のイネーブル
5.4. In-System Memory Content Editorを使用したデバイスのプログラミング
5.5. メモリー・インスタンスのISMCEへのロード
5.6. メモリー内のロケーションのモニタリング
5.7. Hex Editorを使用したメモリー内容の編集
5.8. メモリーファイルのインポートおよびエクスポート
5.9. 複数のデバイスへのアクセス
5.10. スクリプティング・サポート
5.11. メモリーおよび定数のインシステム変更 改訂履歴
7.1. System Consoleの概要
7.2. System Consoleのデバッグフロー
7.3. System Consoleと相互作用するIPコア
7.4. System Consoleの起動
7.5. System ConsoleのGUI
7.6. System Consoleのコマンド
7.7. コマンドライン・モードでのSystem Consoleの実行
7.8. System Consoleサービス
7.9. System Consoleの例とチュートリアル
7.10. On-Board インテル® FPGAダウンロード・ケーブルIIのサポート
7.11. システム検証フローにおけるMATLAB*とSimulink*
7.12. 廃止予定のコマンド
7.13. System Consoleを使用したデザインの解析とデバッグ 改訂履歴
8.1. デバイスのサポート
8.2. Channel Manager
8.3. トランシーバー・デバッグ・フローの手順
8.4. トランシーバーをデバッグ可能にするためのデザイン変更
8.5. インテルFPGAにデザインをプログラムする
8.6. Transceiver Toolkitへのデザインのロード
8.7. ハードウェア・リソースのリンク
8.8. トランシーバー・チャネルの特定
8.9. トランシーバー・リンクの作成
8.10. リンクテストの実行
8.11. PMAアナログ設定の制御
8.12. ユーザー・インターフェイス設定リファレンス
8.13. 一般的なエラーのトラブルシューティング
8.14. APIリファレンスのスクリプティング
8.15. トランシーバー・リンクのデバッグ 改訂履歴
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2.3.6.2. セグメント化バッファー
セグメント化バッファーでは、取得メモリーは分割されて同一サイズのセグメントになります。トリガー条件セットの定義は、各セグメントに対して行います。各セグメントは、非セグメント化バッファーとして機能します。 セグメント化バッファーの使用によりデバッグできるシステムには、比較的低頻度で繰り返されるイベントが含まれています。
個別のトリガー条件の設定をセグメント化バッファーごとに行う場合は、State basedトリガーフローを使用してください。この図で示すのは、セグメント化バッファーシステムの一例です。
図 18. 繰り返しイベントを生成するシステムこのデザインでは、正しいデータがSRAMコントローラーに確実に書き込まれるようにするため、 RDATA ポートのモニタリングは、アドレス H'0F0F0F0F が RADDR ポートに送信されるたびに行います。
バッファー取得をイネーブルしてコンフィグレーションするには、SegmentedをSignal Tapロジック・アナライザー・エディターで選択し、使用するセグメント数を決定します。図の例では、64個のサンプルセグメントを選択すると、64の読み出しサイクルのキャプチャができます。