AN 886: Agilex™ 7 デバイスのデザイン・ガイドライン

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ID 683634
日付 10/09/2023
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. Agilex™ 7デバイスのデザイン・ガイドラインの概要 2. システムの仕様 3. デバイスの選択 4. セキュリティーに関する考慮事項 5. デザインエントリー 6. ボードおよびソフトウェアの考慮事項 7. デザインの実装、解析、最適化、および検証 8. デバッグ 9. Agilex™ 7 SoC FPGA向けエンベデッド・ソフトウェアのデザイン・ガイドライン
1. Agilex™ 7デバイスのデザイン・ガイドラインの概要 x
1.1. デザインフロー 1.2. Agilex™ 7デバイスのデザイン・ガイドラインの概要の改訂履歴
2. システムの仕様 x
2.1. デザインの仕様 2.2. Quartus® Prime 開発ソフトウェアのインストール 2.3. IPの選択 2.4. シミュレーション 2.5. デザインエントリーの準備 2.6. I/Oの概要 2.7. デバイスでの Agilex™ 7 HPSの使用 2.8. システムの仕様の改訂履歴
2.3. IPの選択 x
2.3.1. 利用可能なHPS IPの評価 2.3.2. ソフト/ハードIPおよびI/Oインターフェイスの選択
2.5. デザインエントリーの準備 x
2.5.1. コーディング・スタイルとデザインに関する推奨事項 2.5.2. プラットフォーム・デザイナー
3. デバイスの選択 x
3.1. デバイスバリアント 3.2. PLLおよびクロック配線 3.3. ロジック、メモリー、および乗算器の密度 3.4. I/Oピン数、LVDS SERDESチャネル、およびパッケージの種類 3.5. スピードグレード 3.6. デバイスの移行 3.7. デバイスの選択の改訂履歴
4. セキュリティーに関する考慮事項 x
4.1. セキュリティーに関する考慮事項の改訂履歴
5. デザインエントリー x
5.1. SoCデバイスのデザインエントリー 5.2. FPGAのみで構成されるデバイスのデザインエントリー 5.3. NoCのデザインエントリー 5.4. EMIFに関する考慮事項 5.5. Nios® ソフトウェア・プロセッサーIP 5.6. トランシーバーのプランニング 5.7. リコンフィグレーション 5.8. デザインエントリーの改訂履歴
5.1. SoCデバイスのデザインエントリー x
5.1.1. ファイアウォールのプランニング 5.1.2. ブートとコンフィグレーションに関する考慮事項 5.1.3. HPSのクロックおよびリセットに関するデザインの考慮事項 5.1.4. リセット・コンフィグレーション 5.1.5. HPSピンの多重化におけるデザインの考慮事項 5.1.6. HPS I/Oの設定: 制約とドライブ強度 5.1.7. HPSインターフェイスのデザイン・ガイドライン 5.1.8. FPGAとHPS間のインターフェイス接続 5.1.9. Agilex™ 7 HPSコンポーネントの実装
5.1.2. ブートとコンフィグレーションに関する考慮事項 x
5.1.2.1. HPSブートオプションの選択 5.1.2.2. コンフィグレーション・ソース 5.1.2.3. リモート・システム・アップデート (RSU)
5.1.3. HPSのクロックおよびリセットに関するデザインの考慮事項 x
5.1.3.1. HPSのクロック・プランニング 5.1.3.2. 早期のピン・プランニングとI/O割り当ての解析 5.1.3.3. HPSクロック、リセット、PoRのピン機能と接続 5.1.3.4. リモート・システム・アップデート (RSU) 機能に向けたDirect to Factoryピンのサポート 5.1.3.5. 内部クロック
5.1.4. リセット・コンフィグレーション x
5.1.4.1. HPSペリフェラルのリセット管理 5.1.4.2. システムリセットに関する考慮事項
5.1.7. HPSインターフェイスのデザイン・ガイドライン x
5.1.7.1. PHYインターフェイスの選択に関するデザインの考慮事項 5.1.7.2. USBインターフェイスのデザイン・ガイドライン 5.1.7.3. SD/MMCおよびeMMCカード・インターフェイスのデザイン・ガイドライン 5.1.7.4. フラッシュ・インターフェイスのデザイン・ガイドライン 5.1.7.5. UARTインターフェイスのデザイン・ガイドライン 5.1.7.6. I2Cインターフェイスのデザイン・ガイドライン
5.1.7.1. PHYインターフェイスの選択に関するデザインの考慮事項 x
5.1.7.1.1. HPS EMAC PHYインターフェイス 5.1.7.1.2. RMIIおよびRGMII PHYインターフェイス 5.1.7.1.3. FPGA I/Oを介して接続されるPHYインターフェイス 5.1.7.1.4. デバイスドライバーの可用性の考慮 5.1.7.1.5. MDIO 5.1.7.1.6. シグナル・インテグリティー
5.1.7.4. フラッシュ・インターフェイスのデザイン・ガイドライン x
5.1.7.4.1. NANDフラッシュ・インターフェイスのデザイン・ガイドライン
5.1.8. FPGAとHPS間のインターフェイス接続 x
5.1.8.1. HPSメモリーマップド・インターフェイスの概要 5.1.8.2. 推奨されるシステムトポロジー 5.1.8.3. HPS-to-FPGAインターフェイス・デザインに推奨される開始点 5.1.8.4. ブリッジのコンフィグレーションおよび使用方法に関する情報
5.1.8.1. HPSメモリーマップド・インターフェイスの概要 x
5.1.8.1.1. HPS-to-FPGA ブリッジ 5.1.8.1.2. Lightweight HPS-to-FPGA ブリッジ 5.1.8.1.3. FPGA-to-HPSブリッジ 5.1.8.1.4. インターフェイス帯域幅
5.1.8.2. 推奨されるシステムトポロジー x
5.1.8.2.1. システムレベルのキャッシュ・コヒーレンシー 5.1.8.2.2. HPSからFPGAファブリックへのアクセス 5.1.8.2.3. MPUとFPGAのデータ共有 5.1.8.2.4. FPGAからのキャッシュ可能なデータアクセスおよびキャッシュ不可能なデータアクセスの例
5.2. FPGAのみで構成されるデバイスのデザインエントリー x
5.2.1. クロックおよびリセットに関するデザインの考慮事項 5.2.2. I/Oおよびクロックのプランニング
5.2.2. I/Oおよびクロックのプランニング x
5.2.2.1. FPGAピン割り当ての作成 5.2.2.2. FPGAデバイスの早期ピン・プランニングとI/O割り当ての解析 5.2.2.3. I/Oの機能およびピン接続 5.2.2.4. クロックおよびPLLの選択 5.2.2.5. PLL機能に関するガイドライン 5.2.2.6. クロック・コントロール機能 5.2.2.7. I/O同時スイッチング・ノイズ
5.2.2.3. I/Oの機能およびピン接続 x
5.2.2.3.1. I/Oの信号タイプ 5.2.2.3.2. 選択可能な規格と柔軟に使用できるI/Oバンク 5.2.2.3.3. 兼用ピンおよび特殊ピンの接続 5.2.2.3.4. Agilex™ 7のI/O機能
5.2.2.5. PLL機能に関するガイドライン x
5.2.2.5.1. クロック・フィードバック・モード 5.2.2.5.2. クロック出力
5.3. NoCのデザインエントリー x
5.3.1. NoCアーキテクチャーの基本 5.3.2. NoCのデザインフロー 5.3.3. NoC IPのコンフィグレーション 5.3.4. NoC IPのインスタンス化 5.3.5. NoCの割り当て 5.3.6. NoCの物理的配置 5.3.7. コンパイル 5.3.8. シミュレーション
5.4. EMIFに関する考慮事項 x
5.4.1. メモリー・インターフェイス 5.4.2. FPGA EMIFデザインの考慮事項
5.5. Nios® ソフトウェア・プロセッサーIP x
5.5.1. Nios® V 5.5.2. Nios® II
6. ボードおよびソフトウェアの考慮事項 x
6.1. システムおよびボードの早期プランニング 6.2. Agilex™ 7 SoC FPGAのボード・デザイン・ガイドライン 6.3. ボードデザインにおけるピン接続に関する考慮事項 6.4. ボードに関する考慮事項の改訂履歴
6.1. システムおよびボードの早期プランニング x
6.1.1. SmartVID 6.1.2. インテル® FPGA Power and Thermal Calculator 6.1.3. 熱管理とデザイン 6.1.4. 熱管理のための温度検知 6.1.5. 電圧センサー 6.1.6. デバイスの電源投入 6.1.7. 電源ピンの接続と電源 6.1.8. デバイス・コンフィグレーションのプランニング
6.1.7. 電源ピンの接続と電源 x
6.1.7.1. デカップリング・コンデンサー 6.1.7.2. PLLに関するボード・デザイン・ガイドライン 6.1.7.3. トランシーバーに関するボード・デザイン・ガイドライン
6.1.8. デバイス・コンフィグレーションのプランニング x
6.1.8.1. デバイスの電源再投入とリコンフィグレーション 6.1.8.2. コンフィグレーション・スキームの選択 6.1.8.3. コンフィグレーション機能 6.1.8.4. Quartus® Primeのコンフィグレーション設定 6.1.8.5. コンフィグレーション・ピンの接続
6.1.8.2. コンフィグレーション・スキームの選択 x
6.1.8.2.1. シリアル・コンフィグレーション・デバイス 6.1.8.2.2. インテル® FPGA ダウンロード・ケーブル
6.1.8.4. Quartus® Primeのコンフィグレーション設定 x
6.1.8.4.1. オプションのコンフィグレーション・ピン 6.1.8.4.2. 兼用コンフィグレーション・ピン
6.1.8.5. コンフィグレーション・ピンの接続 x
6.1.8.5.1. コンフィグレーション・ピンの電圧レベル 6.1.8.5.2. クロック・トレースのシグナル・インテグリティー 6.1.8.5.3. JTAGピン 6.1.8.5.4. MSELコンフィグレーション・モード・ピン 6.1.8.5.5. その他のコンフィグレーション・ピン
6.2. Agilex™ 7 SoC FPGAのボード・デザイン・ガイドライン x
6.2.1. HPSのバウンダリー・スキャン 6.2.2. エンベデッド・ソフトウェアのデバッグとトレース
6.3. ボードデザインにおけるピン接続に関する考慮事項 x
6.3.1. ボードに関連する Quartus® Primeの設定 6.3.2. シグナル・インテグリティーに関する考慮事項 6.3.3. ボードレベルのシミュレーションとI/Oの高度なタイミング解析
6.3.1. ボードに関連する Quartus® Primeの設定 x
6.3.1.1. 未使用ピン
6.3.2. シグナル・インテグリティーに関する考慮事項 x
6.3.2.1. 高速ボードデザイン 6.3.2.2. 電圧リファレンス・ピン 6.3.2.3. 同時スイッチング・ノイズ 6.3.2.4. I/O終端
7. デザインの実装、解析、最適化、および検証 x
7.1. 合成ツールの選択 7.2. デバイスリソース使用率レポート 7.3. Quartus® Primeのメッセージ 7.4. タイミング制約と解析 7.5. エリアおよびタイミングの最適化 7.6. パフォーマンスの維持とコンパイル時間の短縮 7.7. Hyperflex® でのデザイン 7.8. シミュレーション 7.9. 消費電力の解析 7.10. 消費電力の最適化 7.11. デザインの実装、解析、最適化、および検証の改訂履歴
7.4. タイミング制約と解析 x
7.4.1. タイミングの最適化と解析に推奨される割り当て
7.10. 消費電力の最適化 x
7.10.1. デバイスおよびデザインの消費電力最適化手法 7.10.2. Quartus® Primeの消費電力最適化手法
7.10.1. デバイスおよびデザインの消費電力最適化手法 x
7.10.1.1. デバイスのスピードグレード 7.10.1.2. クロック消費電力の管理 7.10.1.3. メモリー消費電力の削減 7.10.1.4. I/O消費電力に関するガイドライン
8. デバッグ x
8.1. オンチップデバッグの概要 8.2. オンチップ・デバッグ・ツール 8.3. デバッグの改訂履歴
8.1. オンチップデバッグの概要 x
8.1.1. デバッグツールのプランニング・ガイドライン
9. Agilex™ 7 SoC FPGA向けエンベデッド・ソフトウェアのデザイン・ガイドライン x
9.1. 概要 9.2. ゴールデン・ハードウェア・リファレンス・デザイン (GHRD) 9.3. ソフトウェア要件の定義 9.4. ソフトウェア・アーキテクチャーの定義 9.5. ソフトウェア・ツールの選択 9.6. ブートローダー・ソフトウェアの選択 9.7. アプリケーションに対するオペレーティング・システムの選択 9.8. Linux*に向けたソフトウェア開発プラットフォームの構築 9.9. パートナーOSまたはRTOSに向けたソフトウェア開発プラットフォームの構築 9.10. ドライバーに関する考慮事項 9.11. ブートとコンフィグレーションに関する考慮事項 9.12. システムリセットに関する考慮事項 9.13. フラッシュに関する考慮事項 9.14. アプリケーションの開発 9.15. テストと検証 9.16. エンベデッド・ソフトウェアのデザイン・ガイドラインの改訂履歴
9.5. ソフトウェア・ツールの選択 x
9.5.1. ソフトウェア・ビルド・ツールの選択 9.5.2. ソフトウェア・デバッグ・ツールの選択 9.5.3. ソフトウェア・トレース・ツールの選択
9.7. アプリケーションに対するオペレーティング・システムの選択 x
9.7.1. Linux*またはRTOSの使用 9.7.2. ベアメタル・フレームワークとしてのブートローダーの使用 9.7.3. 対称型および非対称型マルチプロセッシング (SMPおよびAMP) モードの使用
9.8. Linux*に向けたソフトウェア開発プラットフォームの構築 x
9.8.1. Linux*向けゴールデン・システム・リファレンス・デザイン (GSRD) 9.8.2. ソースコード管理における考慮事項
9.11. ブートとコンフィグレーションに関する考慮事項 x
9.11.1. コンフィグレーション・ソース 9.11.2. コンフィグレーション・フラッシュ 9.11.3. コンフィグレーション・クロック 9.11.4. HPSブートオプションの選択 9.11.5. HPSブートソース 9.11.6. リモート・システム・アップデート (RSU)
9.13. フラッシュに関する考慮事項 x
9.13.1. フラッシュのプログラミング手法 9.13.2. FPGAコンフィグレーションとHPS大容量ストレージに対する単一フラッシュの使用
1. Agilex™ 7デバイスのデザイン・ガイドラインの概要
2. システムの仕様
3. デバイスの選択
4. セキュリティーに関する考慮事項
5. デザインエントリー
6. ボードおよびソフトウェアの考慮事項
7. デザインの実装、解析、最適化、および検証
8. デバッグ
9. Agilex™ 7 SoC FPGA向けエンベデッド・ソフトウェアのデザイン・ガイドライン

8.2. オンチップ・デバッグ・ツール

Quartus® Prime検証ツールのポートフォリオには、次のインシステム・デバッグ機能が含まれています。

  • Signal Probeインクリメンタル配線: 内部信号をすばやくI/Oピンに配線します。元のデザインの配線には影響しません。完全に配線されたデザインで開始します。デバッグで使用する信号を選択し、これまでに予約しているI/Oピン、または現在使用していないI/Oピンに配線します。
  • Signal Tapエンベデッド・ロジック・アナライザー: 内部信号およびI/O信号の状態をプローブします。外部機器や追加のI/Oピンは必要ありません。この間、FPGAデバイスでデザインはフルスピードで動作します。カスタムのトリガー条件ロジックを定義することで、より良い精度がもたらされ、問題特定能力が向上します。外部プローブの使用や、デザインファイルの変更を行うことなく、デザイン内の内部ノードまたはI/Oピンの状態をキャプチャーすることができます。キャプチャーした信号データはすべてデバイスメモリーに格納されるため、任意の時点でデータを読み取り、解析を行うことができます。Signal Tapエンベデッド・ロジック・アナライザーは、同期インターフェイスでより良く機能します。非同期インターフェイスのデバッグには、Signal Probeまたは外部ロジックアナライザーの使用を検討し、信号がより正確に表示されるようにします。Signal Tapは、元のデザインの配線に影響する場合があります。
  • ロジック・アナライザー・インターフェイス: 内部FPGA信号を外部ロジック・アナライザーに接続および送信して解析を行い、外部ロジック・アナライザーやミックスド・シグナル・オシロスコープの高度な機能を活用することができます。この機能を使用すると、多数の内部デバイス信号を少数の出力ピンにデバッグ目的で接続し、必要に応じてデザインのI/Oピンで信号を多重化することができます。
  • In-System Memory Content Editor: インシステムのFPGAメモリーおよび定数への読み出し/書き込みアクセスをJTAGインターフェイスを介して行います。これにより、システムでのデバイス動作時に、FPGA内のメモリーコンテンツと定数値に対する変更をテストすることができます。
  • In-System Sources and Probes: カスタム・レジスター・チェーンをセットアップし、ロジックデザインの測定されているノードを駆動またはサンプリングします。それにより、シンプルな仮想スティミュラスを入力し、測定されているノードの現在の値をキャプチャーすることができます。
  • Virtual JTAG Intel® FPGA IP IPコア: 独自のシステムレベルのデバッグ・インフラストラクチャーを構築することができます。これには、プロセッサーベースのデバッグ・ソリューションとシステムレベルのデバッグに向けたソフトウェアのデバッグツールが含まれます。SLD_VIRTUAL_JTAG Intel® FPGA IPコアを直接HDLコードでインスタンス化し、1つ以上のトランスペアレントな通信チャネルを提供することで、デバイスのJTAGインターフェイスを使用してFPGAデザインの一部にアクセスします。
  • EMIFデバッグ・ツールキット: Tclベースのグラフィカル・ユーザー・インターフェイスで、JTAG接続を介して通信し、回路基板上の外部メモリー・インターフェイスでキャリブレーション・ステータスとデバッグ情報を取得できるようにします。ツールキットのDriver Margining機能により、ドライバーで任意のトラフィック・パターンを使用して、メモリー・インターフェイスのマージンを測定することができます。Tclベースのグラフィカル・ユーザー・インターフェイスは、JTAG接続を介して、 Nios® IIシーケンサーが収集するメモリー・キャリブレーション・データへのアクセスを提供します。ツールキットを使用すると、ランクをマスクしてキャリブレーションを行ったり、インターフェイスの再キャリブレーションを要求したりすることができます。ツールキットのDriver Margining機能により、ドライバーで任意のトラフィック・パターンを使用して、メモリー・インターフェイスのマージンを測定することができます。EMIFツールキットでは、同じデバイス上の複数の異なるメモリー・インターフェイスと通信できますが、一度に通信できるのは1つだけです。
  • トランシーバー・ツールキット: システムコンソール・テクノロジーを使用して、FPGAおよびボード設計者がトランシーバー・リンクのシグナル・インテグリティーをシステムでリアルタイムに検証し、ボードの立ち上げ時間を短縮できるようにします。複数のリンクをターゲットのデータレートで実行し、ビットエラー・レート (BER) のテストを行うことで、トランシーバー・ツールキットでボードデザインを検証します。さまざまなテストメトリクスを使用して結果を定量化し、トランシーバーのアナログ設定を調整して最適なリンク・パフォーマンスを実現します。1つまたは複数のボードで複数のデバイスを同時にテストするには、トランシーバー・ツールキットGUIのリンクテストを使用します。
  • Pタイル・ツールキット: Pタイル・デバッグ・ツールキット (DTK) は、Pタイルに向けたシステムコンソールベースのツールで、物理層の PCIe* リンクのリアルタイムの制御、監視、およびデバッグを提供します。Pタイル・デバッグ・ツールキットでは、次のことが可能です。
    • PCIe* リンクのプロトコルとリンクステータスの表示
    • PCIe* リンクのPLLおよびチャネルごとのステータスの表示
    • チャネルのアナログ設定の表示
    • レシーバーのアイを表示し、各チャネルのアイの高さと幅を測定
    • リンクパートナー間に接続されているリタイマーの存在を通知
  • Rタイル・ツールキット: Rタイル・デバッグ・ツールキット (DTK) は、Rタイルに向けたシステムコンソールベースのツールで、 PCIe* リンクのリアルタイムの制御、監視、およびデバッグを提供します。Rタイル・デバッグ・ツールキットを使用すると、ポートごとに次のアクションを実行することができます。
    • IPのコンフィグレーションとリンクステータスの監視
    • PCIe* コンフィグレーション・スペースの監視
    • エラーやイベント条件に関するさまざまなカウンターを監視
    • レーンのマージン調整を実行し、時間マージンと電圧マージンを各チャネルの推奨マスクと比較
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