外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイド

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ID 683216
日付 6/20/2022
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPについて 2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – 概要 3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - 製品アーキテクチャー 4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - エンドユーザーの信号 5. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - メモリーIPのシミュレーション 6. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – DDR4のサポート 7. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - QDR-IVのサポート 8. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – タイミング・クロージャー 9. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー 10. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – コントローラーの最適化 11. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – デバッグ 12. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイド・アーカイブ 13. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイドの改訂履歴
1. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPについて x
1.1. リリース情報
2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – 概要 x
2.1. インテル® Agilex™ EMIF IPのプロトコルと機能のサポート 2.2. インテル® Agilex™ EMIF IPのデザインフロー 2.3. インテル® Agilex™ EMIF IPのデザイン・チェックリスト
3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - 製品アーキテクチャー x
3.1. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: 概要 3.2. インテル® Agilex™ EMIFのシーケンサー 3.3. インテル® Agilex™ EMIFのキャリブレーション 3.4. インテル® Agilex™ EMIFのコントローラー 3.5. インテル® Agilex™ EMIF IPにおけるユーザーが要求するリセット 3.6. ハード・プロセッサー・サブシステム向け インテル® Agilex™ EMIF 3.7. ハードPHYでのカスタム・コントローラーの使用
3.1. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: 概要 x
3.1.1. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oサブシステム 3.1.2. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/O SSM 3.1.3. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oバンク 3.1.4. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oレーン 3.1.5. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: 入力DQSクロックツリー 3.1.6. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: PHYクロックツリー 3.1.7. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: PLLリファレンス・クロック・ネットワーク 3.1.8. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: クロックの位相アライメント
3.1.4. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oレーン x
3.1.4.1. AVST x8/x16/x32コンフィグレーション・スキームでDDR4 x72インターフェイスを設計する場合の考慮事項
3.3. インテル® Agilex™ EMIFのキャリブレーション x
3.3.1. インテル® Agilex™ のキャリブレーションの段階 3.3.2. インテル® Agilex™ のキャリブレーションにおける段階の説明 3.3.3. インテル® Agilex™ におけるキャリブレーションのフローチャート 3.3.4. インテル® Agilex™ におけるキャリブレーション・アルゴリズム
3.3.4. インテル® Agilex™ におけるキャリブレーション・アルゴリズム x
3.3.4.1. DDR4のキャリブレーション・アルゴリズム 3.3.4.2. QDR-IVのキャリブレーション・アルゴリズム 3.3.4.3. キャリブレーションの問題をデバッグするためのガイドライン
3.3.4.1. DDR4のキャリブレーション・アルゴリズム x
3.3.4.1.1. DDR4読み出しキャリブレーション 3.3.4.1.2. DDR4書き込みキャリブレーション
3.3.4.2. QDR-IVのキャリブレーション・アルゴリズム x
3.3.4.2.1. QDR-IV読み出しキャリブレーション 3.3.4.2.2. QDR-IV書き込みキャリブレーション
3.3.4.3. キャリブレーションの問題をデバッグするためのガイドライン x
3.3.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ 3.3.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ 3.3.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ 3.3.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ 3.3.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.4. インテル® Agilex™ EMIFのコントローラー x
3.4.1. ハード・メモリー・コントローラー 3.4.2. インテル® Agilex™ ハード・メモリー・コントローラーのレート変換機能
3.4.1. ハード・メモリー・コントローラー x
3.4.1.1. ハード・メモリー・コントローラーの機能 3.4.1.2. ハード・メモリー・コントローラーのメイン制御パス 3.4.1.3. データ・バッファー・コントローラー
3.6. ハード・プロセッサー・サブシステム向け インテル® Agilex™ EMIF x
3.6.1. インテル® Agilex™ EMIF IPとHPSにおけるI/Oバンク使用時の制約
4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - エンドユーザーの信号 x
4.1. インテル® Agilex™ EMIF IPのインターフェイスと信号の説明 4.2. インテル® Agilex™ EMIF IPのAFI信号 4.3. インテル® Agilex™ EMIF IP AFI 4.0のタイミング図 4.4. インテル® Agilex™ EMIF IPのメモリー・マップド・レジスター (MMR) 一覧
4.1. インテル® Agilex™ EMIF IPのインターフェイスと信号の説明 x
4.1.1. DDR4に対するインテルAgilex EMIF IPインターフェイス 4.1.2. QDR-IVに対するインテルAgilex EMIF IPインターフェイス
4.1.1. DDR4に対するインテルAgilex EMIF IPインターフェイス x
4.1.1.1. DDR4のlocal_reset_req 4.1.1.2. DDR4のlocal_reset_status 4.1.1.3. DDR4のpll_ref_clk 4.1.1.4. DDR4のpll_locked 4.1.1.5. DDR4のac_parity_err 4.1.1.6. DDR4のoct 4.1.1.7. DDR4のmem 4.1.1.8. DDR4のstatus 4.1.1.9. DDR4のafi_reset_n 4.1.1.10. DDR4のafi_clk 4.1.1.11. DDR4のafi_half_clk 4.1.1.12. DDR4のafi 4.1.1.13. DDR4のemif_usr_reset_n 4.1.1.14. DDR4のemif_usr_clk 4.1.1.15. DDR4のctrl_amm 4.1.1.16. DDR4のctrl_amm_aux 4.1.1.17. DDR4のctrl_auto_precharge 4.1.1.18. DDR4のctrl_user_priority 4.1.1.19. DDR4のctrl_ecc_user_interrupt 4.1.1.20. DDR4のctrl_ecc_readdataerror 4.1.1.21. DDR4のctrl_ecc_status 4.1.1.22. DDR4のctrl_mmr_slave 4.1.1.23. DDR4のhps_emif 4.1.1.24. DDR4のemif_calbus 4.1.1.25. DDR4のemif_calbus_clk
4.1.2. QDR-IVに対するインテルAgilex EMIF IPインターフェイス x
4.1.2.1. QDR-IVのlocal_reset_req 4.1.2.2. QDR-IVのlocal_reset_status 4.1.2.3. QDR-IVのpll_ref_clk 4.1.2.4. QDR-IVのpll_locked 4.1.2.5. QDR-IVのoct 4.1.2.6. QDR-IVのmem 4.1.2.7. QDR-IVのstatus 4.1.2.8. QDR-IVのafi_reset_n 4.1.2.9. QDR-IVのafi_clk 4.1.2.10. QDR-IVのafi_half_clk 4.1.2.11. QDR-IVのafi 4.1.2.12. QDR-IVのemif_usr_reset_n 4.1.2.13. QDR-IVのemif_usr_clk 4.1.2.14. QDR-IVのctrl_amm 4.1.2.15. QDR-IVのemif_calbus 4.1.2.16. QDR-IVのemif_calbus_clk
4.2. インテル® Agilex™ EMIF IPのAFI信号 x
4.2.1. AFIのクロック信号とリセット信号 4.2.2. AFIのアドレスおよびコマンド信号 4.2.3. AFIの書き込みデータ信号 4.2.4. AFIの読み出しデータ信号 4.2.5. AFIのキャリブレーション・ステータス信号 4.2.6. AFIのトラッキング管理信号 4.2.7. AFIのシャドーレジスター管理信号
4.3. インテル® Agilex™ EMIF IP AFI 4.0のタイミング図 x
4.3.1. AFIのアドレスおよびコマンドのタイミング図 4.3.2. AFIの書き込みシーケンスのタイミング図 4.3.3. AFIの読み出しシーケンスのタイミング図 4.3.4. AFIキャリブレーション・ステータスのタイミング図
4.4. インテル® Agilex™ EMIF IPのメモリー・マップド・レジスター (MMR) 一覧 x
4.4.1. ctrlcfg0 4.4.2. ctrlcfg1 4.4.3. dramtiming0 4.4.4. sbcfg1 4.4.5. caltiming0 4.4.6. caltiming1 4.4.7. caltiming2 4.4.8. caltiming3 4.4.9. caltiming4 4.4.10. caltiming9 4.4.11. dramaddrw 4.4.12. sideband0 4.4.13. sideband1 4.4.14. sideband4 4.4.15. sideband6 4.4.16. sideband7 4.4.17. sideband9 4.4.18. sideband11 4.4.19. sideband12 4.4.20. sideband13 4.4.21. sideband14 4.4.22. dramsts 4.4.23. niosreserve0 4.4.24. niosreserve1 4.4.25. sideband16 4.4.26. ecc3: ECCエラーおよび割り込みのコンフィグレーション 4.4.27. ecc4: ステータスとエラー情報 4.4.28. ecc5: 最新のSBEまたはDBEのアドレス 4.4.29. ecc6: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレス 4.4.30. ecc7: 最新のSBEまたはDBEのアドレスの拡張 4.4.31. ecc8: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレスの拡張
5. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - メモリーIPのシミュレーション x
5.1. シミュレーションのオプション 5.2. シミュレーションの概要 5.3. Mentor Graphics* AXI4 Master BFM (Intel FPGA Edition) でのデザイン例のシミュレーション
5.2. シミュレーションの概要 x
5.2.1. キャリブレーション・モード 5.2.2. シミュレーション・スクリプト 5.2.3. Verilog HDLでの機能的なシミュレーション 5.2.4. VHDLでの機能的なシミュレーション 5.2.5. デザイン例のシミュレーション
5.3. Mentor Graphics* AXI4 Master BFM (Intel FPGA Edition) でのデザイン例のシミュレーション x
5.3.1. 手順の概要 5.3.2. EMIFデザイン例の生成 5.3.3. プラットフォーム・デザイナーでのシミュレーション・デザイン例の編集 5.3.4. ed_sim.vファイルの編集 5.3.5. master_test_program.svファイルの取得 5.3.6. シミュレーションの実行
6. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – DDR4のサポート x
6.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのパラメーターの説明 6.2. Intel Agilex External Memory Interfaces Intel Calibration IPのパラメーター 6.3. インテル® Agilex™ EMIF DDR4 IPにおけるレジスターマップのIP-XACTのサポート 6.4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのピンおよびリソースのプランニング 6.5. DDR4におけるボード・デザイン・ガイドライン
6.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのパラメーターの説明 x
6.1.1. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: General 6.1.2. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Memory 6.1.3. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem I/O 6.1.4. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: FPGA I/O 6.1.5. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem Timing 6.1.6. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Controller 6.1.7. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Diagnostics 6.1.8. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Example Designs
6.4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのピンおよびリソースのプランニング x
6.4.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのインターフェイス・ピン 6.4.2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのリソース 6.4.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPにおけるピンのガイドライン
6.4.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのインターフェイス・ピン x
6.4.1.1. ピン要件の見積もり 6.4.1.2. DIMMのオプション 6.4.1.3. 最大インターフェイス数
6.4.2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのリソース x
6.4.2.1. OCT 6.4.2.2. PLL
6.4.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPにおけるピンのガイドライン x
6.4.3.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのバンク 6.4.3.2. 一般的なガイドライン 6.4.3.3. x4 DIMMの実装 6.4.3.4. 特定のピンの接続要件 6.4.3.5. コマンドおよびアドレス信号 6.4.3.6. クロック信号 6.4.3.7. データ、データストローブ、DM/DBI、およびオプションのECC信号
6.5. DDR4におけるボード・デザイン・ガイドライン x
6.5.1. インテル® Agilex™ デバイスでのDDR4の終端 6.5.2. クラムシェル・トポロジー 6.5.3. 一般的なレイアウトの配線ガイドライン 6.5.4. リファレンス・スタックアップ 6.5.5. さまざまなDDR4トポロジーでの インテル® Agilex™ EMIF固有の配線ガイドライン 6.5.6. DDR4の配線ガイドライン: ディスクリート (コンポーネント) トポロジー 6.5.7. インテル® Agilex™ EMIFのピン入れ替えガイドライン
6.5.1. インテル® Agilex™ デバイスでのDDR4の終端 x
6.5.1.1. ダイナミック・オンチップ終端 (OCT) 6.5.1.2. DDR4におけるダイナミック・オンダイ終端 (ODT) 6.5.1.3. インテル® Agilex™ FPGAデバイスでの終端の選択 6.5.1.4. インテル® Agilex™ FPGAデバイスにおけるオンチップ終端に関する推奨事項
6.5.5. さまざまなDDR4トポロジーでの インテル® Agilex™ EMIF固有の配線ガイドライン x
6.5.5.1. UDIMM、RDIMM、LRDIMM、SODIMMのDDR4トポロジーにおける1DPC (チャネルあたり1つのDIMM) 6.5.5.2. UDIMM、RDIMM、LRDIMMのDDR4トポロジーにおける2DPC (チャネルあたり2つのDIMM) 6.5.5.3. SODIMMトポロジーにおける2DPC (チャネルあたり2つのDIMM) 6.5.5.4. DIMMのコンフィグレーションにおけるスキュー・マッチング・ガイドライン 6.5.5.5. メモリー/DIMM側の電力供給に関する推奨事項
6.5.6. DDR4の配線ガイドライン: ディスクリート (コンポーネント) トポロジー x
6.5.6.1. シングルランク x 8ディスクリート (コンポーネント) トポロジー 6.5.6.2. シングルランク x 16ディスクリート (コンポーネント) トポロジー 6.5.6.3. シングルランク x 8およびRランク x 16のディスクリート (コンポーネント) トポロジーにおけるADDR/CMD基準電圧とリセット信号の配線ガイドライン 6.5.6.4. DDR4ディスクリート・コンフィグレーションにおけるスキュー・マッチング・ガイドライン 6.5.6.5. DDR4ディスクリート・コンフィグレーションの電力供給に関する推奨事項
7. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - QDR-IVのサポート x
7.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのパラメーターの説明 7.2. Intel Agilex External Memory Interfaces Intel Calibration IPのパラメーター 7.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのピンおよびリソースのプランニング 7.4. QDR-IVにおけるボード・デザイン・ガイドライン
7.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのパラメーターの説明 x
7.1.1. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: General 7.1.2. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Memory 7.1.3. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: FPGA I/O 7.1.4. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Mem Timing 7.1.5. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Controller 7.1.6. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Diagnostics 7.1.7. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Example Designs
7.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのピンおよびリソースのプランニング x
7.3.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのインターフェイス・ピン 7.3.2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのリソース 7.3.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPにおけるピンのガイドライン
7.3.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのインターフェイス・ピン x
7.3.1.1. ピン要件の見積もり 7.3.1.2. 最大インターフェイス数
7.3.2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのリソース x
7.3.2.1. OCT 7.3.2.2. PLL
7.3.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPにおけるピンのガイドライン x
7.3.3.1. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPのバンク 7.3.3.2. 一般的なガイドライン 7.3.3.3. QDR IV SRAMのコマンドとアドレス、AP、およびAINV信号 7.3.3.4. QDR IV SRAMのクロック信号 7.3.3.5. QDR IV SRAMのデータ、DINV、QVLD信号 7.3.3.6. 特定のピンの接続要件 7.3.3.7. リソース共有ガイドライン (複数のインターフェイス)
7.4. QDR-IVにおけるボード・デザイン・ガイドライン x
7.4.1. 一般的なレイアウトの配線ガイドライン 7.4.2. リファレンス・スタックアップ 7.4.3. QDR-IVトポロジーの配線ガイドライン 7.4.4. インテル® Agilex™ EMIFデザイン・ガイドラインの概要
7.4.3. QDR-IVトポロジーの配線ガイドライン x
7.4.3.1. QDR-IVのシングルデバイス・メモリー・トポロジー 7.4.3.2. QDR-IVのコンフィグレーションにおけるスキュー・マッチング・ガイドライン 7.4.3.3. QDR-IVのコンフィグレーションにおける電力供給に関する推奨事項
8. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – タイミング・クロージャー x
8.1. タイミング・クロージャー 8.2. タイミングの最適化
8.1. タイミング・クロージャー x
8.1.1. タイミング解析
8.1.1. タイミング解析 x
8.1.1.1. PHYまたはコア
9. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー x
9.1. I/Oのタイミング・クロージャーの概要 9.2. EMIF IPとともに生成される資料 9.3. SPICEデッキ 9.4. ファイルの編成 9.5. 最上位のパラメーター化ファイル 9.6. IPで提供されるパラメーター (場合によってはオーバーライドが必要) 9.7. *_ip_parameters.datファイルの理解とマスクポリゴンの作成 9.8. マルチランク・トポロジー 9.9. ピンの寄生 9.10. マスク評価
9.3. SPICEデッキ x
9.3.1. アドレス/コマンドのシミュレーション・デッキ 9.3.2. FPGA書き込み動作のシミュレーション・デッキ 9.3.3. FPGA読み出し動作のシミュレーション・デッキ
10. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – コントローラーの最適化 x
10.1. インターフェイス規格 10.2. バンク管理による効率 10.3. データ転送 10.4. コントローラーの効率の改善
10.4. コントローラーの効率の改善 x
10.4.1. オートプリチャージ・コマンド 10.4.2. アディティブ・レイテンシー 10.4.3. バンク・インターリーブ 10.4.4. アディティブ・レイテンシーとバンク・インターリーブ 10.4.5. ユーザーが制御するリフレッシュ 10.4.6. 動作周波数 10.4.7. 連続する読み出しまたは書き込み 10.4.8. データの並べ替え 10.4.9. スタベーション制御 10.4.10. コマンドの並べ替え 10.4.11. 帯域幅 10.4.12. コマンドの優先制御のイネーブル 10.4.13. コントローラーの繰り上げおよび先送りリフレッシュ (DDR4専用)
10.4.1. オートプリチャージ・コマンド x
10.4.1.1. オートプリチャージを使用することによるDDR4インターフェイスでの最大メモリー帯域幅の実現
11. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – デバッグ x
11.1. インターフェイスのコンフィグレーションにおける性能の問題 11.2. 機能的な問題の評価 11.3. タイミング問題の特徴 11.4. Signal Tapロジック・アナライザーでのメモリーIPの検証 11.5. ハードウェアのデバッグ・ガイドライン 11.6. ハードウェアの問題の分類 11.7. 外部メモリー・インターフェイス・デバッグ・ツールキットを使用したデバッグ 11.8. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターの使用 11.9. コンフィグレーション可能なトラフィック・ジェネレーター (TG2) の使用 11.10. EMIFオンチップ・デバッグ・ポート 11.11. Efficiency Monitor
11.1. インターフェイスのコンフィグレーションにおける性能の問題 x
11.1.1. インターフェイス・コンフィグレーションのボトルネックと効率に関する問題
11.2. 機能的な問題の評価 x
11.2.1. インテル® IPのメモリーモデル 11.2.2. ベンダーより提供されるメモリーモデル 11.2.3. トランスクリプト・ウィンドウのメッセージ 11.2.4. サンプルドライバーを変更することによる失敗の再現
11.3. タイミング問題の特徴 x
11.3.1. FPGAのタイミング問題の評価 11.3.2. 外部メモリー・インターフェイスのタイミング問題の評価
11.4. Signal Tapロジック・アナライザーでのメモリーIPの検証 x
11.4.1. Signal Tapロジック・アナライザーでモニターする信号
11.5. ハードウェアのデバッグ・ガイドライン x
11.5.1. 同じ問題を示す単純化されたデザインの作成 11.5.2. 電源供給ネットワークの測定 11.5.3. シグナル・インテグリティーとセットアップおよびホールドマージンの測定 11.5.4. 電圧の変更 11.5.5. 低速での動作 11.5.6. ソフトウェアの以前のバージョンに問題が存在するかの特定 11.5.7. ソフトウェアの現在のバージョンに問題が存在するかの特定 11.5.8. 異なるPCBでの判断 11.5.9. 他のコンフィグレーションでの判断 11.5.10. デバッグのチェックリスト
11.6. ハードウェアの問題の分類 x
11.6.1. シグナル・インテグリティーの問題 11.6.2. ハードウェアとキャリブレーションの問題
11.6.1. シグナル・インテグリティーの問題 x
11.6.1.1. シグナル・インテグリティーの問題の特徴 11.6.1.2. シグナル・インテグリティーの問題の評価
11.6.1.2. シグナル・インテグリティーの問題の評価 x
11.6.1.2.1. スキュー 11.6.1.2.2. クロストーク 11.6.1.2.3. 電力システム 11.6.1.2.4. クロック信号 11.6.1.2.5. アドレスおよびコマンド信号 11.6.1.2.6. 読み出しデータの有効ウィンドウとアイ・ダイアグラム 11.6.1.2.7. 書き込みデータの有効ウィンドウとアイ・ダイアグラム 11.6.1.2.8. OCTとODTの使用
11.6.2. ハードウェアとキャリブレーションの問題 x
11.6.2.1. ポストアンブルのタイミング問題とマージン 11.6.2.2. 断続的な問題の評価 11.6.2.3. メモリーのタイミング・パラメーターの評価 11.6.2.4. ボードに正しいメモリー・コンポーネントまたはDIMMが取り付けられていることの確認
11.7. 外部メモリー・インターフェイス・デバッグ・ツールキットを使用したデバッグ x
11.7.1. EMIFデバッグ・ツールキットを使用する際の前提条件 11.7.2. ツールキットを使用するためのデザインのコンフィグレーション 11.7.3. EMIFデバッグ・ツールキットの起動 11.7.4. EMIFデバッグ・ツールキットの使用 11.7.5. エクスポート・テーブル 11.7.6. Eye Viewerにおけるレポートのグラフィカル表示
11.7.2. ツールキットを使用するためのデザインのコンフィグレーション x
11.7.2.1. デバッグ・ツールキットを備えるデザイン例の生成 11.7.2.2. 複数の外部メモリー・インターフェイスを備えるデザイン例の作成 11.7.2.3. 既存のデザインでのEMIFツールキットのイネーブル
11.7.4. EMIFデバッグ・ツールキットの使用 x
11.7.4.1. Memory Configurationタブ 11.7.4.2. Calibrationタブ 11.7.4.3. キャリブレーションの問題をデバッグするためのガイドライン 11.7.4.4. Calibration Reportタブ 11.7.4.5. Calibrate Terminationタブ 11.7.4.6. Vref Marginingタブ 11.7.4.7. Driver Marginingタブ 11.7.4.8. ISSPタブ 11.7.4.9. Pin Delay Settingsタブ
11.7.4.2. Calibrationタブ x
11.7.4.2.1. キャリブレーションの再実行 11.7.4.2.2. トラフィック・ジェネレーターの再実行
11.7.4.3. キャリブレーションの問題をデバッグするためのガイドライン x
11.7.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ 11.7.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ 11.7.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ 11.7.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ 11.7.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.8. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターの使用 x
11.8.1. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターのステータスの読み取り 11.8.2. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターを使用しての無限トラフィックの実行 11.8.3. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターのリセットトリガーの変更 11.8.4. Signal Tapでの生成されたトラフィックの観察
11.9. コンフィグレーション可能なトラフィック・ジェネレーター (TG2) の使用 x
11.9.1. デザイン例でのトラフィック・ジェネレーターのイネーブル 11.9.2. トラフィック・ジェネレーター・ブロックの説明 11.9.3. デフォルトのトラフィック・パターン 11.9.4. コンフィグレーション・レジスターとステータスレジスター コンフィグレーション・レジスターとステータスレジスター 11.9.5. ユーザーパターン 11.9.6. トラフィック・ジェネレーターのステータス 11.9.7. トラフィック・ジェネレーターでのトラフィックの開始 11.9.8. トラフィック・ジェネレーターのコンフィグレーション・ユーザー・インターフェイス
11.9.5. ユーザーパターン x
11.9.5.1. Test Duration/Instructionパターン 11.9.5.2. Addressパターン 11.9.5.3. データパターンとバイト・イネーブル
11.9.5.2. Addressパターン x
11.9.5.2.1. アドレス・ジェネレーターのモード 11.9.5.2.2. アドレス・ジェネレーターのMSBインデックス 11.9.5.2.3. アドレス・ジェネレーターの有効幅 11.9.5.2.4. アドレス・ジェネレーターの相対頻度 11.9.5.2.5. アドレスパターン例 - ベーシックモード 11.9.5.2.6. アドレスパターン例 - アドバンスト・モード
11.9.8. トラフィック・ジェネレーターのコンフィグレーション・ユーザー・インターフェイス x
11.9.8.1. トラフィック・ジェネレーターの接続 11.9.8.2. トラフィック・ジェネレーターのコンフィグレーション 11.9.8.3. トラフィック・ジェネレーターのプリセットの選択 11.9.8.4. トラフィック・ジェネレーターのステータスレポート 11.9.8.5. TG2トラフィック・ジェネレーターのコンフィグレーション例
11.10. EMIFオンチップ・デバッグ・ポート x
11.10.1. オンチップ・デバッグ・ポートのイネーブル 11.10.2. I/O SSM calbusブリッジのデータ構造と使用法 11.10.3. I/O SSMユーザーRAMのデータ構造と使用法 11.10.4. デバッグ・インターフェイスの構造 11.10.5. 例: オンチップ・デバッグ・ポートでのキャリブレーション結果とマージンの読み取り
11.10.3. I/O SSMユーザーRAMのデータ構造と使用法 x
11.10.3.1. パラメーター・テーブル 11.10.3.2. パラメーター・テーブルの列挙型
11.10.3.1. パラメーター・テーブル x
11.10.3.1.1. グローバル・パラメーター・テーブル 11.10.3.1.2. 各インターフェイスのパラメーター・テーブルの構造 11.10.3.1.3. パラメーター・テーブルの配列
11.10.4. デバッグ・インターフェイスの構造 x
11.10.4.1. デバッグデータの構造 11.10.4.2. デバッグの列挙型
11.11. Efficiency Monitor x
11.11.1. デザイン例でのEfficiency Monitorのイネーブル 11.11.2. Efficiency Monitorブロックの詳細 11.11.3. コントロール・レジスターおよびステータスレジスター 11.11.4. Efficiency Monitor Toolkitの起動
1. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPについて
2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – 概要
3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - 製品アーキテクチャー
4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - エンドユーザーの信号
5. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - メモリーIPのシミュレーション
6. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – DDR4のサポート
7. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - QDR-IVのサポート
8. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – タイミング・クロージャー
9. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー
10. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – コントローラーの最適化
11. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – デバッグ
12. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイド・アーカイブ
13. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイドの改訂履歴

11.9.4. コンフィグレーション・レジスターとステータスレジスター

ユーザー・トラフィック・パターンは、生成されるトラフィック・パターンに影響を与えるコンフィグレーション・レジスターに書き込むことでコンフィグレーションすることができます。

生成されるトラフィック・パターンを管理するコンフィグレーション・レジスターは、パターンの次の側面のいずれかに影響します。

  • テスト期間/命令パターン
  • アドレスパターン
  • データパターン
注: このセクションでは、ctrl_ammインターフェイスに現れるトラフィック・パターンをコンフィグレーションするレジスターについて説明します。

コンフィグレーション・レジスターとステータスレジスター

シンボルアドレス レジスター名 レジスター数 アクセスタイプ レジスターセクション レジスターの説明
0x4 TG_START 1 読み出し/書き込み Start このレジスターに書き込みを行い、トラフィック・ジェネレーターを開始します。
0x8 TG_LOOP_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 実行する読み出し/書き込みループの数。ループは、1つの書き込みのブロックと、それに続く読み出しのブロックとして定義されます。この値が0に設定されている場合、無限ユーザーモードが有効になります。
0xC TG_WRITE_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 各ループで実行される一意の書き込みの数。
0x10 TG_READ_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 各ループで実行される一意の読み出しの数。
0x14 TG_WRITE_REPEAT_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 各書き込み操作を繰り返す回数 (つまり、同じアドレスと同じデータ)。
0x18 TG_READ_REPEAT_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 各読み出し操作を繰り返す回数 (つまり、同じアドレス)。
0x1C TG_BURST_LENGTH 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern Avalonバースト長
0x20 TG_CLEAR 1 読み出し/書き込み Status

エラー・ステータス・レジスターをクリアします。次のビットに1を書き込むことにより、これらのレジスターを互いに独立してクリアすることができます。

BIT0 - 記録されているPNFデータをクリアし、新たに開始します。

BIT1 - 記録されているAvalon読み出し数をクリアします。

BIT2 - 記録されている最初のエラーのデータ (アドレス、想定データ、および実際のデータ) をクリアします。

BIT3 - バースト長オーバーフロー・フラグとバースト長オーバーフロー・アドレスをクリアします。

BIT4 - WORMモードのエラー情報 (つまり、対象の読み出しデータ) をクリアします。
0x38 TG_RW_GEN_IDLE_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 書き込みブロックと次の読み出しブロック間でトラフィック・ジェネレーターがアイドル状態に維持されるサイクル数。
0x3C TG_RW_GEN_LOOP_IDLE_COUNT 1 読み出し/書き込み Test Duration/Instruction Pattern 読み出しブロックと次の書き込みブロック間でトラフィック・ジェネレーターがアイドル状態に維持されるサイクル数。
0x40 TG_SEQ_START_ADDR_WR 6 読み出し/書き込み Address Pattern 書き込みの開始アドレス。Random Modeでシードアドレスとして使用されます。
0x80 TG_ADDR_MODE_WR 6 読み出し/書き込み Address Pattern

書き込みの各アドレスフィールドのAddress Generator Modeを選択する配列。

TG_ADDR_MODE==0: Fixed

TG_ADDR_MODE==1: Random

TG_ADDR_MODE==2: Sequential

TG_ADDR_MODE==3: Field Unused
0xC0 TG_RETURN_TO_START_ADDR 1 読み出し/書き込み Address Pattern 1に設定すると、各ループの開始アドレスに戻るように指定されます。0に設定すると、前のループが中断したところからアドレスパターンを再開することを指定します。
0x100 TG_SEQ_ADDR_INCR 6 読み出し/書き込み Address Pattern アドレスを順次インクリメントする場合に各アドレスフィールドに使用されるフィールド0から5のインクリメントの配列。この値は、少なくともフィールド0のTG_BURST_LENGTHの値にする必要があります。
0x140 TG_SEQ_START_ADDR_RD 6 読み出し/書き込み Address Pattern 読み出しの開始アドレス。Random Modeでシードアドレスとして使用されます。
0x180 TG_ADDR_MODE_RD 6 読み出し/書き込み Address Pattern

読み出しの各アドレスフィールドのAddress Generator Modeを選択する配列。

TG_ADDR_MODE==0: Fixed

TG_ADDR_MODE==1: Random

TG_ADDR_MODE==2: Sequential

TG_ADDR_MODE==3: Field Unused
0x1C0 TG_PASS 1 読み出し専用 Status 1を読み出している場合は、すべてのテストステージの終わりに、トラフィック・ジェネレーターが合格したことを示します。
0x1C4 TG_FAIL 1 読み出し専用 Status 1を読み出している場合は、トラフィック・ジェネレーターが失敗したことを示します。これは、すべてのテストステージの最後に示されます。
0x1C8 TG_FAIL_COUNT_L 1 読み出し専用 Status 失敗した読み出しの数 (下位32ビット)。
0x1CC TG_FAIL_COUNT_H 1 読み出し専用 Status 失敗した読み出しの数 (上位32ビット)。
0x1D0 TG_FIRST_FAIL_ADDR_L 1 読み出し専用 Status 最初に失敗した読み出しのアドレス (下位32ビット)。
0x1D4 TG_FIRST_FAIL_ADDR_H 1 読み出し専用 Status 最初に失敗した読み出しのアドレス (上位32ビット)。
0x1D8 TG_TOTAL_READ_COUNT_L 1 読み出し専用 Status 実行された読み出し操作の数 - 送受信されたもの (下位32ビット)。
0x1DC TG_TOTAL_READ_COUNT_H 1 読み出し専用 Status 実行された読み出し操作の数 - 送受信されたもの (上位32ビット)。
0x1E0 TG_TEST_COMPLETE 1 読み出し専用 Status 1を読み出している場合は、トラフィック・ジェネレーターの実行が完了したことを示します。
0x1E4 TG_INVERT_BYTEEN 1 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern 1に設定すると、バイト・イネーブルの値とwritedataを反転することを指定します。
0x1E8 TG_RESTART_DEFAULT_TRAFFIC 1 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern このレジスターに書き込みを行い、デフォルトのモードを再開します。
0x1EC TG_USER_WORM_EN 1 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern 1に設定すると、WORM (Write Once Read Many) モードが有効になります。WORMモードでデータの不一致があった場合、TG2は最初のデータの不一致で停止し、2回目の読み出しを同じアドレスに発行します。
0x1F0 TG_TEST_BYTEEN 1 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern このレジスターに書き込みを行い、トラフィック・ジェネレーターが反転バイト・イネーブル・テスト・モードであることを示します。
0x1F4 TG_TIMEOUT 1 読み出し専用 Status 1を読み出している場合は、トラフィック・ジェネレーターがタイムアウトしていることを示します。
0x1F8 TG_NUM_DATA_GEN 1 読み出し専用 Data/Byte-Enable Pattern データ・ジェネレーターの数。
0x1FC TG_NUM_BYTEEN_GEN 1 読み出し専用 Data/Byte-Enable Pattern バイト・イネーブル・ジェネレーターの数。
0x200 TG_RDATA_WIDTH 1 読み出し専用 Data/Byte-Enable Pattern 読み出しデータとPNF信号の幅。
0x204 TG_ERROR_REPORT 1 読み出し専用 Data/Byte-Enable Pattern TG2の不正なコンフィグレーションを報告します。
0x208 TG_DATA_RATE_WIDTH_RATIO 1 読み出し専用 Data/Byte-Enable Pattern データレートの幅の比率は、ctrl_ammインターフェイスでのデータ幅とメモリー・インターフェイスでのデータ幅の比率です。
0x240 TG_PNF 18 読み出し専用 Status 永続的なPNF (Pass Not Fail) 信号。Bus Width = TG_RDATA_WIDTHです。
0x340 TG_FAIL_EXPECTED_DATA 1 読み出し専用 Status 最初のエラーでの想定データ。Bus Width = TG_RDATA_WIDTHです。
0x440 TG_FAIL_READ_DATA 1 読み出し専用 Status 最初のエラーで受信したデータ。Bus Width = TG_RDATA_WIDTHです。
0x540 TG_DATA_SEED TG_NUM_DATA_GEN 読み出し/書き込み Data Generator 各データ・ジェネレーター (DG) のシード値または開始値。これは、TG_NUM_DATA_GENエントリーで構成されます。
0x580 TG_BYTEEN_SEED TG_NUM_BYTEEN_GEN 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern 各バイト・イネーブル・ジェネレーター (BEG) のシード値または開始値。これは、TG_NUM_BYTEEN_GENエントリーで構成されます。
0x5C0 TG_PPPG_SEL TG_NUM_DATA_GEN 読み出し/書き込み Data Generator 利用可能なパターンのモードから選択します。0: Fixed、1: PRBS7、2: PRBS15、3: PRBS31、4: Rotating
0x600 TG_BYTEEN_SEL TG_NUM_BYTEEN_GEN 読み出し/書き込み Data/Byte-Enable Pattern 利用可能なパターンのモードから選択します。0: Fixed、1: PRBS7、2: PRBS15、3: PRBS31、4: Rotating
0x640 TG_ADDR_FIELD_RELATIVE_FREQ 6 読み出し/書き込み Address Pattern 各フィールドの頻度を設定する配列。相対頻度の値は整数です。この値では、フィールドが更新されるまでの一意のアドレスコマンドの数を指定します。
0x680 TG_ADDR_FIELD_MSB_INDEX 5 読み出し/書き込み Address Pattern フィールド0から4のMSB位置を設定する配列。フィールド5は余剰であり、指定する必要はありません。MSBの位置はフィールド幅を意味します。
0x6C0 TG_BURSTLENGTH_OVERFLOW_OCCURRED 1 読み出し専用 Status 1を読み出している場合は、アドレス空間外に書き込みを試みたことを示します。これは、現在のアドレスとバースト長の合計が総アドレス空間よりも大きくなると発生します。
0x700 TG_BURSTLENGTH_FAIL_ADDR_L 1 読み出し専用 Status アドレス・オーバーフローが発生したアドレスを示します。これは、バースト長が書き込み/読み出しアドレスと最後のメモリーアドレスの差よりも大きい場合に発生します。(下位32ビット)
0x704 TG_BURSTLENGTH_FAIL_ADDR_H 1 読み出し専用 Status アドレス・オーバーフローが発生したアドレスを示します。これは、バースト長が書き込み/読み出しアドレスと最後のメモリーアドレスの差よりも大きい場合に発生します。(上位32ビット)
0x740 TG_WORM_MODE_TARGETTED_DATA 1 読み出し専用 Status 対象の読み出しから受信したデータ。対象の読み出しデータは、WORMモードが有効になっており、最初の失敗アドレスへの2回目の読み出し結果が発生した場合に設定されます。

上の表では、一部のコンフィグレーション設定とステータス情報は1つの32ビット・レジスターに収まりますが、他は複数のレジスターに分割されます。開始アドレスの列は、そのセットの最初のレジスターのアドレスを示しています。レジスター数の列は、最初のアドレスに続くレジスターの数を示します。

例えば、TG_PPPG_SELは、TG_NUM_DATA_GEN=8の場合に8つのレジスターを占有します。そのため、データには、アドレス0x5C0、0x5C4、… 0x5E0から読み出すことによりアクセスすることができます。

関連情報
レベル 2 の表題