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1. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPについて
2. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – 概要
3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - 製品アーキテクチャー
4. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - エンドユーザーの信号
5. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - メモリーIPのシミュレーション
6. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – DDR4のサポート
7. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP - QDR-IVのサポート
8. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – タイミング・クロージャー
9. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー
10. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – コントローラーの最適化
11. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IP – デバッグ
12. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイド・アーカイブ
13. 外部メモリー・インターフェイス・ インテル® Agilex™ FPGA IPユーザーガイドの改訂履歴
3.1.1. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oサブシステム
3.1.2. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/O SSM
3.1.3. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oバンク
3.1.4. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: I/Oレーン
3.1.5. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: 入力DQSクロックツリー
3.1.6. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: PHYクロックツリー
3.1.7. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: PLLリファレンス・クロック・ネットワーク
3.1.8. インテル® Agilex™ EMIFのアーキテクチャー: クロックの位相アライメント
3.3.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
3.3.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
3.3.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
3.3.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
4.1.1.1. DDR4のlocal_reset_req
4.1.1.2. DDR4のlocal_reset_status
4.1.1.3. DDR4のpll_ref_clk
4.1.1.4. DDR4のpll_locked
4.1.1.5. DDR4のac_parity_err
4.1.1.6. DDR4のoct
4.1.1.7. DDR4のmem
4.1.1.8. DDR4のstatus
4.1.1.9. DDR4のafi_reset_n
4.1.1.10. DDR4のafi_clk
4.1.1.11. DDR4のafi_half_clk
4.1.1.12. DDR4のafi
4.1.1.13. DDR4のemif_usr_reset_n
4.1.1.14. DDR4のemif_usr_clk
4.1.1.15. DDR4のctrl_amm
4.1.1.16. DDR4のctrl_amm_aux
4.1.1.17. DDR4のctrl_auto_precharge
4.1.1.18. DDR4のctrl_user_priority
4.1.1.19. DDR4のctrl_ecc_user_interrupt
4.1.1.20. DDR4のctrl_ecc_readdataerror
4.1.1.21. DDR4のctrl_ecc_status
4.1.1.22. DDR4のctrl_mmr_slave
4.1.1.23. DDR4のhps_emif
4.1.1.24. DDR4のemif_calbus
4.1.1.25. DDR4のemif_calbus_clk
4.1.2.1. QDR-IVのlocal_reset_req
4.1.2.2. QDR-IVのlocal_reset_status
4.1.2.3. QDR-IVのpll_ref_clk
4.1.2.4. QDR-IVのpll_locked
4.1.2.5. QDR-IVのoct
4.1.2.6. QDR-IVのmem
4.1.2.7. QDR-IVのstatus
4.1.2.8. QDR-IVのafi_reset_n
4.1.2.9. QDR-IVのafi_clk
4.1.2.10. QDR-IVのafi_half_clk
4.1.2.11. QDR-IVのafi
4.1.2.12. QDR-IVのemif_usr_reset_n
4.1.2.13. QDR-IVのemif_usr_clk
4.1.2.14. QDR-IVのctrl_amm
4.1.2.15. QDR-IVのemif_calbus
4.1.2.16. QDR-IVのemif_calbus_clk
4.4.1. ctrlcfg0
4.4.2. ctrlcfg1
4.4.3. dramtiming0
4.4.4. sbcfg1
4.4.5. caltiming0
4.4.6. caltiming1
4.4.7. caltiming2
4.4.8. caltiming3
4.4.9. caltiming4
4.4.10. caltiming9
4.4.11. dramaddrw
4.4.12. sideband0
4.4.13. sideband1
4.4.14. sideband4
4.4.15. sideband6
4.4.16. sideband7
4.4.17. sideband9
4.4.18. sideband11
4.4.19. sideband12
4.4.20. sideband13
4.4.21. sideband14
4.4.22. dramsts
4.4.23. niosreserve0
4.4.24. niosreserve1
4.4.25. sideband16
4.4.26. ecc3: ECCエラーおよび割り込みのコンフィグレーション
4.4.27. ecc4: ステータスとエラー情報
4.4.28. ecc5: 最新のSBEまたはDBEのアドレス
4.4.29. ecc6: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレス
4.4.30. ecc7: 最新のSBEまたはDBEのアドレスの拡張
4.4.31. ecc8: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレスの拡張
6.1.1. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: General
6.1.2. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Memory
6.1.3. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem I/O
6.1.4. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: FPGA I/O
6.1.5. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem Timing
6.1.6. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Controller
6.1.7. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Diagnostics
6.1.8. インテルAgilex EMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Example Designs
7.1.1. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: General
7.1.2. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Memory
7.1.3. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: FPGA I/O
7.1.4. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Mem Timing
7.1.5. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Controller
7.1.6. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Diagnostics
7.1.7. インテルAgilex EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Example Designs
11.1. インターフェイスのコンフィグレーションにおける性能の問題
11.2. 機能的な問題の評価
11.3. タイミング問題の特徴
11.4. Signal Tapロジック・アナライザーでのメモリーIPの検証
11.5. ハードウェアのデバッグ・ガイドライン
11.6. ハードウェアの問題の分類
11.7. 外部メモリー・インターフェイス・デバッグ・ツールキットを使用したデバッグ
11.8. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターの使用
11.9. コンフィグレーション可能なトラフィック・ジェネレーター (TG2) の使用
11.10. EMIFオンチップ・デバッグ・ポート
11.11. Efficiency Monitor
11.7.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
11.7.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
11.7.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
11.7.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
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6.4.3. インテル® Agilex™ FPGA EMIF IPにおけるピンのガイドライン
インテル® Agilex™ FPGAには、デバイスの上端と下端にI/Oバンクがあり、それらを外部メモリー・インターフェイスで使用することができます。
インテル® Agilex™ FPGAのI/Oバンクには96のI/Oピンが含まれています。各バンクは2つのサブバンクに分割され、それぞれに48のI/Oピンがあります。サブバンクはさらに4つのI/Oレーンに分割されています。各I/Oレーンは12のI/Oポートのグループです。
I/Oバンク、I/Oレーン、および各物理I/Oピンとペアになるピンは、デバイスのピンの表で次の命名規則によって一意に識別することができます。
- バンクのI/Oピンは、P#X#Y#として表されます。詳細は次のとおりです。
- P#は、バンクのピン番号を表します。バンクが96ピンの場合、範囲はP0からP95です。
- X#は、デバイスの特定のエッジにあるバンク番号を表します。X0はジッパーから最も遠いバンクです。
- Y#は、デバイスの上端または下端を表します。Y0とY1はそれぞれ、下端と上端のI/Oバンクを指しています。
- IO96バンクは2つのIO48サブバンクで構成されているため、P#の値が48未満 (P# <48) のピンはすべて同じI/Oサブバンクに属します。他のピンはすべて、2番目のIO48サブバンクに属します。
- Index Within I/O Bankの値は、0から11、12から23、24から35、36から47のいずれかの範囲になり、それぞれI/Oレーン0、1、2、3のいずれかを表します。
- I/Oバンクが隣接しているかを判断するには、 アーキテクチャー: I/Oバンク の項で、お使いのデバイスファミリーのサブバンクの並びを参照してください。また、 すべてのバンクがボンディングされている標準的な インテル® Agilex™ FPGA の図、および インテル® Agilex™ FシリーズおよびIシリーズ汎用I/OユーザーガイドのI/Oピンカウントの表を参照してください。
一般的に、I/Oバンクがパッケージにボンディングされていない (「-」の記号がI/Oの表に表示されている) 場合、もしくはI/Oバンクに96のピンが含まれておらず、部分的にのみボンディングされていることが示されている場合を除いて、I/OバンクはI/Oエッジ内で隣接していると考えることができます。特定のデバイスでI/Oバンクが完全にボンディングされていない場合は、それを大きな外部メモリー・インターフェイスのサブバンクのスパンに含めることはできません。いずれの場合も、 インテル® Quartus® Prime開発ソフトウェアを使用し、I/Oバンクの使用方法が実装できるかを確認する必要があります。
- I/Oピンとペアになるピンは、同じI/Oバンクにあります。ペアになるピンは、Index Within I/O Bankが偶数の場合はその値に1を加える、もしくはIndex Within I/O Bankが奇数の場合はその値から1を引くことで特定することができます。