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1.4.1.1. 同期メモリーブロックの使用
1.4.1.2. サポートされないリセットおよびコントロール条件の回避
1.4.1.3. Read-During-Write動作の確認
1.4.1.4. RAMの推論と実装の制御
1.4.1.5. シングルクロック同期RAM (古いデータでのRead-During-Write動作)
1.4.1.6. シングルクロック同期RAM (新しいデータでのRead-During-Write動作)
1.4.1.7. シンプル・デュアルポート、デュアルクロック同期RAM
1.4.1.8. トゥルー・デュアルポート同期RAM
1.4.1.9. 混合幅デュアルポートRAM
1.4.1.10. バイト・イネーブル信号を備えるRAM
1.4.1.11. 電源投入時の初期のメモリーコンテンツの指定
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1.6.6. 巡回冗長検査機能
CRCの計算は、通信プロトコルおよびストレージデバイスで多用され、データの破損を検出しています。 これらの計算機能は非常に効果的で、破損データが32ビットのCRCチェックに合格する可能性は非常に低くなっています。
CRCの機能は通常、幅の広いXORゲートを使用してデータを比較します。合成ツールがこれらのXORゲートをフラット化および分解してロジックをFPGA LUTに実装する方法は、デザインの領域およびパフォーマンスの結果に大きく影響します。XORゲートにはキャンセル・プロパティーがあり、非常に多くの合理的な分解の組み合わせが作成されます。そのため、合成ツールがデフォルトで常に最良の結果を選択できるとは限りません。
このようなデザインでは、6入力ALUTには4入力LUTに比べて大きな利点があります。適切に合成することで、CRCを処理するデザインは6入力ALUTを備えるデバイスで高速に実行することができます。
次に示されているガイドラインは、インテルFPGAデバイスにおけるCRCデザインの結果の品質向上に役立ちます。