インテル® Stratix® 10 LタイルおよびHタイル・トランシーバーPHYユーザーガイド

ID 683621
日付 3/03/2020
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ドキュメント目次

2.4.4.4.1. On-die Instrumentationの概要

ODIブロックは、水平位相値および垂直電圧値をスイープし、それを復元されたデータと比較して、アイの開口部をキャプチャーすることによって機能します。

クロック・データ・リカバリー (CDR) ユニットのリカバリーされたクロックは、2 UIをカバーする128の可能な解像度を持つ位相補間器を介して供給されます。位相補間器の出力は、ODIデータサンプラーをクロックします。ODIデータサンプラーは、RXイコライザーの値の後のレシーバー入力を電圧リファレンス (アイの上半分で64レベル、アイの下半分で64レベル) と比較します。FPGAコアからネイティブPHY IPコアのAvalon-MMインターフェイスを介して、位相補間器およびODIデータサンプラーの電圧リファレンスの両方にアクセスできます。ODIのデータサンプラーの出力は、シリアル・ビット・チェッカーを介してCDRデータサンプラーと比較されます。DFEがイネーブルになっている場合、DFEは投機的であるため、4つの異なるデータパターンを確認するためにシリアル・ビット・チェッカーをコンフィグレーションする必要があります。テストされたビット数およびシリアル・ビット・チェッカーでキャッチされたエラービット数は、アキュムレーターで合計されます。ネイティブPHY IPコアのAvalon-MMインターフェイスを介して、FPGAコアへのアキュムレーターの出力にアクセスできます。ODIの実装により、ライブ・トラフィックのビット・エラー・レート (BER) を測定できます。