インテル® Stratix® 10汎用I/Oユーザーガイド

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ID 683518
日付 1/08/2020
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. Intel® Stratix® 10 I/O の概要 2. Intel® Stratix® 10 I/O のアーキテクチャーと機能 3. Intel® Stratix® 10 I/O のデザイン検討事項 4. Intel® Stratix® 10 I/O の実装ガイド 5. 参照先 6. Intel® Stratix® 10 汎用I/Oユーザーガイド 7. Intel® Stratix® 10汎用I/Oユーザーガイドの改訂履歴
1. Intel® Stratix® 10 I/O の概要 x
1.1. I/Oおよび差動I/Oバッファー 1.2. Intel® Stratix® 10 I/Oバーティカル・マイグレーション・サポート
2. Intel® Stratix® 10 I/O のアーキテクチャーと機能 x
2.1. Intel® Stratix® 10デバイスにおける I/O 規格と電圧レベル 2.2. Intel® Stratix® 10 デバイスの I/O エレメント構造 2.3. Intel® Stratix® 10 デバイスのプログラマブル IOE 機能 2.4. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるオンチップ I/O 終端 2.5. Intel® Stratix® 10 デバイスの外部I/O終端
2.1. Intel® Stratix® 10デバイスにおける I/O 規格と電圧レベル x
2.1.1. Intel® Stratix® 10のI/O 規格のサポート 2.1.2. I/O 規格電圧レベル
2.2. Intel® Stratix® 10 デバイスの I/O エレメント構造 x
2.2.1. Intel® Stratix® 10 デバイスのI/O バンク・アーキテクチャー 2.2.2. Intel® Stratix® 10 デバイスの I/O バッファーと I/O レジスター
2.3. Intel® Stratix® 10 デバイスのプログラマブル IOE 機能 x
2.3.1. プログラマブル出力スルーレート・コントロール 2.3.2. プログラマブル IOE 遅延 2.3.3. プログラマブル・オープンドレイン出力 2.3.4. プログラマブル・バス・ホールド 2.3.5. プログラマブル・プルアップ抵抗 2.3.6. プログラマブル・プリエンファシス 2.3.7. プログラマブル差動出力電圧 2.3.8. プログラマブル・ドライブ能力
2.4. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるオンチップ I/O 終端 x
2.4.1. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるキャリブレーションなしのRS OCT 2.4.2. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるキャリブレーションありのRS OCT 2.4.3. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるキャリブレーションありのRT OCT 2.4.4. ダイナミック OCT 2.4.5. 差動入力 RD OCT 2.4.6. Intel® Stratix® 10 デバイスの OCT キャリブレーション・ブロック
2.5. Intel® Stratix® 10 デバイスの外部I/O終端 x
2.5.1. シングルエンド I/O 終端 2.5.2. Intel® Stratix® 10 デバイスの差動 I/O 終端
2.5.2. Intel® Stratix® 10 デバイスの差動 I/O 終端 x
2.5.2.1. 差動 HSTL、SSTL、HSUL、および POD 終端 2.5.2.2. LVDS、RSDS、および Mini-LVDS の終端 2.5.2.3. LVPECL 終端
3. Intel® Stratix® 10 I/O のデザイン検討事項 x
3.1. ガイドライン : VREFソースとVREFピン 3.2. ガイドライン : 3.0 Vインターフェイスでのデバイスの絶対最大定格の観察 3.3. ガイドライン：電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式のI/O規格 3.4. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない 3.5. ガイドライン : 最大 DC 電流制限 3.6. ガイドライン： 3つのVI/Oバンクすべてに1つの電圧のみを使用 3.7. ガイドライン： インテル® Stratix® 10 TX 400のI/O規格の制限 3.8. ガイドライン： Intel® Stratix® 10 GX 400そしてSX 400のI/O規格の制限
4. Intel® Stratix® 10 I/O の実装ガイド x
4.1. GPIO インテル® FPGA IP 4.2. リソース使用率とデザインのパフォーマンスの検証 4.3. タイミング 4.4. インテル® FPGA IPデザイン例 4.5. ピン・マイグレーションの互換性の検証 4.6. GPIO IP コアへの移行
4.1. GPIO インテル® FPGA IP x
4.1.1. GPIO インテル® FPGA IPのリリース情報 4.1.2. データ・パス 4.1.3. レジスターパッキング
4.1.2. データ・パス x
4.1.2.1. 入力パス 4.1.2.2. 出力および出力イネーブルパス
4.3. タイミング x
4.3.1. タイミング・コンポーネント 4.3.2. 遅延エレメント 4.3.3. タイミング解析 4.3.4. タイミング・クロージャーのガイドライン
4.3.3. タイミング解析 x
4.3.3.1. シングル・データ・レートの入力レジスター 4.3.3.2. フルレートまたはハーフレートDDIOの入力レジスター 4.3.3.3. シングル・データ・レートの出力レジスター 4.3.3.4. フルレートまたはハーフレートDDIOの出力レジスター
4.4. インテル® FPGA IPデザイン例 x
4.4.1. GPIO IPコア合成可能 インテル® Quartus® Primeデザイン例 4.4.2. シミュレーション・デザイン例の生成
4.6. GPIO IP コアへの移行 x
4.6.1. ALTDDIO_IN、ALTDDIO_OUT、ALTDDIO_BIDIR、およびALTIOBUF IPコアの移行 4.6.2. ガイドライン：移行されたIP におけるdatain_h とdatain_l ポートのスワップ
5. 参照先 x
5.1. インテル® FPGA IPのパラメーター設定 5.2. インテル® FPGA IPのインターフェイス信号
5.2. インテル® FPGA IPのインターフェイス信号 x
5.2.1. 共有信号 5.2.2. データ・インターフェイスのためのデータのビット順 5.2.3. データ・インターフェイス信号と対応するクロック
1. Intel® Stratix® 10 I/O の概要
2. Intel® Stratix® 10 I/O のアーキテクチャーと機能
3. Intel® Stratix® 10 I/O のデザイン検討事項
4. Intel® Stratix® 10 I/O の実装ガイド
5. 参照先
6. Intel® Stratix® 10 汎用I/Oユーザーガイド
7. Intel® Stratix® 10汎用I/Oユーザーガイドの改訂履歴

2.4.3. Intel® Stratix® 10 デバイスにおけるキャリブレーションありのRT OCT

Intel® Stratix® 10 デバイスは、3 V I/Oバンクを除くすべてのLVDS I/OバンクでキャリブレーションありのRT OCTをサポートします。キャリブレーションありの RT OCTは入力ピンと双方向ピンのコンフィギュレーションにのみ使用可能です。出力ピンのコンフィギュレーションはキャリブレーションありのRT OCTをサポートしません。RT OCTを使用する場合、バンクのVCCIOはRT OCTをイネーブルするピンのI/O基準に一致している必要があります。

表 12.  キャリブレーションありのRTOCTで選択可能なI/O 規格次の表は、異なるI/O 規格におけるキャリブレーションされたOCTの入力終端の設定をリストしています。
I/O規格 キャリブレーションされたOCT（入力）
RT (Ω) RZQ (Ω)
SSTL-18 Class I 50 100
SSTL-18 Class II 50 100
SSTL-15 Class I 50 100
SSTL-15 Class II 50 100
SSTL-15 48、60,120 240
SSTL-135 48、60、120 240
SSTL-125 48、60、120 240
SSTL-12 60、120 240
POD12 34、40、48、60、80、120、240 240
1.8 V HSTL Class I 50 100
1.8 V HSTL Class II 50 100
1.5 V HSTL Class I 50 100
1.5 V HSTL Class II 50 100
1.2 V HSTL Class I 50 100
1.2 V HSTL Class II 50 100
差動 SSTL-18 class I 50 100
差動HSTL-18 Class II 50 100
差動 SSTL-15 Class I 50 100
差動HSTL-15 Class II 50 100
差動SSTL-15 48、60,120 240
差動SSTL-135 48、60、120 240
差動SSTL-125 48、60、120 240
差動SSTL-12 60、120 240
差動POD12 34、40、48、60、80、120、240 240
差動1.8 V HSTL Class I 50 100
差動1.8 V HSTL Class II 50 100
差動1.5 V HSTL Class I 50 100
差動1.5 V HSTL Class II 50 100
差動1.2 V HSTL Class I 50 100
差動1.2 V HSTL Class II 50 100

RT OCTキャリブレーション回路は、I/Oバッファーのインピーダンスの合計とRZQピンに接続される外部抵抗を比較します。また、回路はI/Oバッファーのインピーダンスの合計が外部抵抗に一致するまでトランジスタをダイナミックにイネーブルまたはディセーブルします。

キャリブレーションは、デバイス・コンフィギュレーションの最後に実行されます。キャリブレーション回路が正しいインピーダンスを見つけると、回路はパワーダウンし、ドライバの特性の変更を停止します。

図 12. キャリブレーションありのRT OCT


レベル 2 の表題