Intel Agilex® 7 SEUの緩和ユーザーガイド

ダウンロード PDF
ID 683128
日付 4/10/2023
Public
ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. Intel Agilex® 7 SEU緩和の概要 2. Intel Agilex® 7 CRAMエラーの軽減 3. セキュア・デバイス・マネージャーECCおよびSmartVIDのエラー検出 4. Intel Agilex® 7 SEUの緩和実装ガイド 5. IPおよびソフトウェアのリファレンス 6. Intel Agilex® 7 SEUの緩和ユーザーガイドのアーカイブ 7. Intel Agilex® 7 SEUの緩和ユーザーガイドの改訂履歴
1. Intel Agilex® 7 SEU緩和の概要 x
1.1. SEUの緩和の手法 1.2. コンフィグレーションRAM 1.3. メモリーブロック 1.4. セキュア・デバイス・マネージャーECCおよびSmartVID 1.5. トリプルモジュラー冗長性 1.6. 故障率
2. Intel Agilex® 7 CRAMエラーの軽減 x
2.1. CRAMエラーの検出と訂正 2.2. エラー・メッセージ・キュー 2.3. スクラブ 2.4. SEUセンシティビティー・プロセス 2.5. デザイン階層のセンシティビティー分類 2.6. アップセットに対するシステム応答の評価
2.4. SEUセンシティビティー・プロセス x
2.4.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IP
2.4.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IP x
2.4.1.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IPのリリース情報 2.4.1.2. オンチップ・ルックアップ・センシティビティー・プロセス 2.4.1.3. オフチップ・ルックアップ・センシティビティー・プロセス 2.4.1.4. センシティビティー・マップ・ヘッダーのルックアップ
2.5. デザイン階層のセンシティビティー分類 x
2.5.1. 階層タグ付け
2.6. アップセットに対するシステム応答の評価 x
2.6.1. Fault Injection Debugger
3. セキュア・デバイス・マネージャーECCおよびSmartVIDのエラー検出 x
3.1. SDM ECCエラー・メッセージ・ビット 3.2. SmartVIDエラー・メッセージ・ビット 3.3. SDM ECCおよびSmartVIDエラー信号の動作
4. Intel Agilex® 7 SEUの緩和実装ガイド x
4.1. SEU_ERROR ピンの設定 4.2. SEUの緩和機能のセットアップ 4.3. 優先スクラブのイネーブル 4.4. 階層タグ付けのための領域の割り当て 4.5. センシティビティー・マップ・ヘッダー 4.6. Fault Injection Debuggerの使用
4.5. センシティビティー・マップ・ヘッダー x
4.5.1. .smh ファイルのメモリーへのプログラム 4.5.2. センシティビティー・マップ・ヘッダーの検索
4.5.2. センシティビティー・マップ・ヘッダーの検索 x
4.5.2.1. センシティビティー・マップ・ヘッダーのリビジョン4ファイル形式のリファレンス
4.6. Fault Injection Debuggerの使用 x
4.6.1. Fault Injection Debuggerの起動とセットアップ 4.6.2. Software Object File (.sof) を使用したデバイスのコンフィグレーション 4.6.3. フォールト・インジェクションのための領域の制約 4.6.4. ランダムな位置へのエラーの挿入 4.6.5. 特定の位置へのエラーの挿入 4.6.6. ダブル隣接エラーの挿入 4.6.7. SDM ECCエラーの挿入 4.6.8. Signal Tapを使用したSEUまたはSDM ECCエラーの解析
4.6.6. ダブル隣接エラーの挿入 x
4.6.6.1. ダブル隣接エラーの挿入: コマンドライン・インターフェイス 4.6.6.2. ダブル隣接エラーの挿入: GUI
4.6.7. SDM ECCエラーの挿入 x
4.6.7.1. SDM ECCエラーの挿入: コマンドライン・インターフェイス 4.6.7.2. SDM ECCエラーの挿入: GUI
5. IPおよびソフトウェアのリファレンス x
5.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IPのリファレンス 5.2. Fault Injection Debuggerのソフトウェア・リファレンス
5.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IPのリファレンス x
5.1.1. Advanced SEU Detection Intel® FPGA IPのパラメーター設定 5.1.2. Advanced SEU Detection IPコアのポート
5.2. Fault Injection Debuggerのソフトウェア・リファレンス x
5.2.1. Fault Injection Debugger GUIツール 5.2.2. Fault Injection Debuggerコマンドライン・インターフェイス
1. Intel Agilex® 7 SEU緩和の概要
2. Intel Agilex® 7 CRAMエラーの軽減
3. セキュア・デバイス・マネージャーECCおよびSmartVIDのエラー検出
4. Intel Agilex® 7 SEUの緩和実装ガイド
5. IPおよびソフトウェアのリファレンス
6. Intel Agilex® 7 SEUの緩和ユーザーガイドのアーカイブ
7. Intel Agilex® 7 SEUの緩和ユーザーガイドの改訂履歴

2.1. CRAMエラーの検出と訂正

Intel Agilex® 7デバイスは、ソフトエラーを検出するオンチップEDC回路を備えています。内部スクラビング機能をイネーブルすると、 Intel Agilex® 7 FPGAは、SEUイベントによって発生したエラーが訂正可能な場合は訂正します。
表 3.  エラータイプの検出と訂正
エラータイプ 検出 訂正
シングル・ビット・エラー あり あり
ダブル隣接エラー あり あり
複数ビットエラー あり -

次の図では、EDCの動作を示しています。特定の Intel Agilex® 7デバイスの場合、合計セクターが均等にグループに分割されます。グループあたりのセクター数は、Smaxに基づいており、これは同じスレッドでEDCの動作を同時に実行できる最大セクター数です。Smaxにはデバイス依存性があります。System WindowでSmaxの詳細、つまりスレッド数を取得できます。この場合、Smax = 5、SEUの検出と訂正中に各グループは異なるスレッドで実行されます。最初のグループは、時間T0にEDCプロセスを実行します。これに続いて、時間T1およびT2にそれぞれ2番目と3番目のグループが、使用可能な最後のグループになるまで続きます。すべてのグループのEDCプロセスの1サイクルを完了するのにかかる時間は、デバイスの最小SEU間隔です。

図 1. EDCの動作
注: エンベデッド・メモリーのECC機能については、関連情報を参照してください。
関連情報
レベル 2 の表題