インテル® Agilex™ デバイス・データシート

ID 683301
日付 6/02/2021
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ドキュメント目次

用語集

表 103.  用語集
用語 定義
Differential I/O Standards レシーバー入力波形

トランスミッター出力波形

fHSCLK I/O PLL入力クロック周波数
fHSDR LVDS SERDESブロック - 最大/最小LVDSデータ転送レート (fHSDR = 1/TUI)、非DPA
fHSDRDPA LVDS SERDESブロック - 最大/最小LVDSデータ転送レート (fHSDRDPA = 1/TUI)、DPA
J (SERDES係数) LVDS SERDESブロック - デシリアライゼーション・ファクター (パラレル・データ・バス幅)
JTAG Timing Specifications JTAGタイミング仕様

RL レシーバー差動入力ディスクリート抵抗値 (インテルAgilexデバイスの外部)
サンプリング・ウィンドウ (SW) Timing Diagram - データを正しくキャプチャするために有効でなければならない期間です。セットアップ時間とホールド時間は、サンプリング・ウィンドウ内の理想的なストローブ位置を決定します。以下はその例です。

シングルエンド電圧リファレンス形式のI/O規格 SSTLおよびHSTL I/OのJEDEC規格は、ACおよびDC入力信号値の両方を定義します。AC値は、レシーバーがそのタイミング仕様を満たす必要がある電圧レベルを示します。DC値は、レシーバーの最終的なロジックステートが明確に定義される電圧レベルを示します。レシーバーの入力がAC値を超えると、レシーバーは新しいロジックステートに変化します。

その後、入力がDCしきい値を超えた状態を継続する限り、新しいロジックステートが維持されます。このアプローチは、入力波形のリンギングが存在する状況で、予測可能なレシーバーのタイミングを提供することを目的としています。

シングルエンド電圧リファレンス形式のI/O規格

tC 高速レシーバー/トランスミッターの入力および出力クロック周期
TCCS (チャネル間スキュー) 同じPLLによって駆動されるチャネル全体のtCOのばらつきやクロックスキューを含む、最速の出力エッジと最も遅い出力エッジ間のタイミング差です。クロックはTCCS測定に含まれます (この表のSWのタイミング図を参照してください)。
tDUTY LVDS SERDESブロック - 高速トランスミッター出力クロック上のデューティー・サイクル
tFALL 信号のHighからLowへの遷移時間 (80~20%)
tINCCJ PLLクロック入力のサイクル間ジッター許容値
tOUTPJ_IO PLLで駆動されるGPIOの周期ジッター
tOUTPJ_DC PLLで駆動される専用クロック出力の周期ジッター
tRISE 信号のLowからHighへの遷移時間 (20~80%)
Timing Unit Interval (TUI) スキュー、伝播遅延、およびデータ・サンプリング・ウィンドウのために許容されるタイミングバジェット (TUI = 1/(Receiver Input Clock Frequency Multiplication Factor) = tC/w)
VCM(DC) DC Commonモード入力電圧
VICM Commonモード入力電圧: レシーバーにおける差動信号のコモンモード
VICM(DC) VCM(DC) DC Commonモード入力電圧
VID 入力差動電圧振幅 - レシーバーにおける差動伝送の正導体と相補導体間の電圧の差
VDIF(AC) AC差動入力電圧 - スイッチングに必要な最小AC入力差動電圧
VDIF(DC) DC差動入力電圧 - スイッチングに必要な最小DC入力差動電圧
VIH 入力High電圧 - デバイスがロジックHighとして受け入れる、入力に印加される最小正電圧
VIH(AC) 入力HighレベルAC電圧
VIH(DC) 入力HighレベルDC電圧
VIL 入力Low電圧 - デバイスがロジックLowとして受け入れる、入力に印加される最大正電圧
VIL(AC) 入力LowレベルAC電圧
VIL(DC) 入力LowレベルDC電圧
VOCM Commonモード出力電圧 - トランスミッターにおける差動信号のコモンモード
VOD 出力差動電圧振幅 - トランスミッターにおける差動伝送ラインの正導体と相補導体間の電圧の差
VSWING 差動入力電圧
VOX 出力差動クロスポイント電圧
VIX(AC) VIX入力差動クロスポイント電圧
W LVDS SERDESブロック - Clock Boost Factor