F-Tile Serial Lite IV Intel® FPGA IPデザイン例ユーザーガイド

ID 683287
日付 12/13/2021
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ドキュメント目次

3.4. ハードウェア・テスト

ハードウェアのデザイン例は、ループバック・テストを提供します。ループバック・テスト・モードでは、トラフィック・ジェネレーターはパケットをF-Tile Serial Lite IV TXコアに送信し、ループバックをRXコアに内部的または外部的に送信します。

図 9. ループバック・テスト

システム・コンソール・スクリプトを使用するには ./ed_hwtest/system_console ディレクトリーに移動します。sliv_ftile.tclスクリプトを入手します。システム・コンソール・スクリプトは、統計情報を読み出すための便利なコマンドを提供し、デザインのさまざまな機能を制御できるようにします。

表 10.  ハードウェア・テスト用のシステム・コンソール・コマンド
コマンド 機能
list_jtag ボードに接続されているJTAGマスター・インデックスのリストを表示します。
set_jtag <jtag master_index number> JTAGマスターを選択します。
  • 内部および外部ループバックをイネーブルするには、phy_1/phy_jtag_m JTAGノードのJTAGマスター・インデックス番号を使用します。
    例えば、次のJTAGリストに示されている phy_1/phy_jtag_m JTAGノードのJTAGマスター・インデックスは2です。set_jtag 2 と入力して、JTAGマスター・インデックス2を選択します。次に、内部または外部ループバック・コマンドをイネーブルします。
    % list_jtag
    Available JTAG Masters:
    0:    /devices/<JTAG_port>/phy_0/master
    1:    /devices/<JTAG_port>/phy_0/demo_jtag_m.master
    2:    /device/<JTAG_port>/phy_1/phy_jtag_m.master
    
  • 内部および外部ループバック以外のコマンドを実行するには、phy_0/demo_jtag_m JTAGノードのJTAGマスター・インデックス番号を使用します。
    例えば、次のJTAGリストに示されている phy_0/demo_jtag_m JTAGノードのJTAGマスター・インデックスは1です。set_jtag 1 と入力して、JTAG マスター・インデックス1を選択します。次に、使用するシステム・コンソール・コマンドを入力します。
    % list_jtag
    Available JTAG Masters:
    0:    /devices/<JTAG_port>/phy_0/master
    1:    /devices/<JTAG_port>/phy_0/demo_jtag_m.master
    2:    /device/<JTAG_port>/phy_1/phy_jtag_m.master
    
read_error_statistic エラー統計を表示します。
sl4_link_init_int_lpbk <index number> トランシーバー内のTXからRXへの内部シリアル・ループバックをイネーブルし、特定のトランシーバー・キャリブレーション・フローを実行します。
  • 0: 内部シリアル・ループバックをディスエーブルする
  • 1: 内部シリアル・ループバックをイネーブルする
traffic_gen_enable トラフィック・ジェネレーターとチェッカーをイネーブルします。
traffic_gen_disable トラフィック・ジェネレーターとチェッカーをディスエーブルします。
continuous_mode_en TXおよびRXコア (MACおよびPHY) をリセットし、トラフィック・ジェネレーターが連続 (単一の連続データ生成) トラフィック・ストリームを生成できるようにします。
burst_mode_en TXおよびRXコア (MACおよびPHY) をリセットし、トラフィック・ジェネレーターがバースト (複数のバースト・パケット・データ生成) トラフィック・ストリームを生成できるようにします。
crc_err_inject_pulse すべてのレーンのCRCエラー挿入をイネーブルします。
図 10. システムコンソールにおけるハードウェア・デザイン例のテスト結果の例