MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイド

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ID 683210
日付 2/21/2017
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. MAX® 10 JTAG BST の概要 2. JTAG BST のアーキテクチャー 3. JTAG BST 動作コントロール 4. JTAG チェーンでのI/O 電圧のサポート 5. JTAG BST 回路を有効または無効にする 6. JTAG BST のガイドライン 7. バウンダリー・スキャン記述言語のサポート 8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報
2. JTAG BST のアーキテクチャー x
2.1. JTAG ピン 2.2. JTAG 回路機能モデル 2.3. JTAG バウンダリー・スキャン・レジスター
2.3. JTAG バウンダリー・スキャン・レジスター x
2.3.1. MAX® 10 I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セル
3. JTAG BST 動作コントロール x
3.1. JTAG IDCODE 3.2. JTAG セキュアモード 3.3. JTAG プライベート命令 3.4. JTAG 命令
8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報 x
A.1. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの改訂履歴
1. MAX® 10 JTAG BST の概要
2. JTAG BST のアーキテクチャー
3. JTAG BST 動作コントロール
4. JTAG チェーンでのI/O 電圧のサポート
5. JTAG BST 回路を有効または無効にする
6. JTAG BST のガイドライン
7. バウンダリー・スキャン記述言語のサポート
8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報

2.1. JTAG ピン

表 1.  JTAG ピンの概要
ピン 機能 説明
TDI 以下に用いるシリアル入力ピン
  • 命令
  • テストデータ
  • プログラミング・データ
  • TDI はTCK の立ち上がりエッジでサンプリングされる
  • TDI ピンは内部ウィークプルアップ抵抗を備えている
TDO 以下に用いるシリアル出力ピン
  • 命令
  • テストデータ
  • プログラミング・データ
  • TDO はTCK の立ち下がりエッジでサンプリングされる
  • このピンは、データがデバイスからシフトアウトされなければトライステートになる
TMS TAP コントローラー・ステート・マシンの遷移を決定するコントロール信号を提供する入力ピン
  • TMS はTCK の立ち上がりエッジでサンプリングされる
  • TMS ピンは内部ウィークプルアップ抵抗を備えている
TCK BST 回路へのクロック入力 —

すべてのJTAG ピンは、VCCIO 1B によって駆動されます。JTAG モードでは、I/O ピンはLVTTL あるいはLVCMOS の3.3 V～1.5 V の規格をサポートします。

レベル 2 の表題