2.1. JTAG ピン

MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイド

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ID 683210

日付 2/21/2017

バージョン current

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表 1. JTAG ピンの概要
ピン	機能	説明
`TDI`	以下に用いるシリアル入力ピン命令テストデータプログラミング・データ	`TDI` は`TCK` の立ち上がりエッジでサンプリングされる `TDI` ピンは内部ウィークプルアップ抵抗を備えている
`TDO`	以下に用いるシリアル出力ピン命令テストデータプログラミング・データ	`TDO` は`TCK` の立ち下がりエッジでサンプリングされるこのピンは、データがデバイスからシフトアウトされなければトライステートになる
`TMS`	TAP コントローラー・ステート・マシンの遷移を決定するコントロール信号を提供する入力ピン	`TMS` は`TCK` の立ち上がりエッジでサンプリングされる `TMS` ピンは内部ウィークプルアップ抵抗を備えている
`TCK`	BST 回路へのクロック入力	—

すべてのJTAG ピンは、V_CCIO 1B によって駆動されます。JTAG モードでは、I/O ピンはLVTTL あるいはLVCMOS の3.3 V～1.5 V の規格をサポートします。