MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイド

ID 683210
日付 2/21/2017
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6. JTAG BST のガイドライン

デバイスでBST を行う際は、以下のガイドラインについて考慮してください。

  • “10...” パターンが SHIFT_IR ステートの最初のクロックサイクルの間にTDO ピンを介して命令レジスターからシフトアウトされなければ、TAP コントローラーが適切な状態に達しません。この問題を解決するには、以下の手順のいずれかを実行してください。
    • TAP コントローラーが適切に SHIFT_IR ステートに達しているかを確認する。TAP コントローラーを SHIFT_IR ステートに進めるには、TAP コントローラーをRESET ステートに戻してからTMS ピンに 01100 コードを送る
    • デバイスのVCCGNDJTAG と専用コンフィグレーション・ピンの接続を確認する
  • 最初のEXTEST テストサイクルの前に SAMPLE/PRELOAD テストサイクルを実行して、EXTEST モードに入った時点でデバイスのピンに既知のデータが存在することを確認します。OEJ アップデート・レジスターに0 が含まれている場合、OUTJ アップデート・レジスターのデータはドライブアウトされます。システム内の他のデバイスとの競合を避けるためには、ステートが既知の正しいものである必要があります。
  • コンフィグレーション前にテストを行うには、nCONFIG ピンをLow に保ちます。