MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイド

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ID 683210
日付 2/21/2017
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ドキュメント目次
ドキュメント目次 x
1. MAX® 10 JTAG BST の概要 2. JTAG BST のアーキテクチャー 3. JTAG BST 動作コントロール 4. JTAG チェーンでのI/O 電圧のサポート 5. JTAG BST 回路を有効または無効にする 6. JTAG BST のガイドライン 7. バウンダリー・スキャン記述言語のサポート 8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報
2. JTAG BST のアーキテクチャー x
2.1. JTAG ピン 2.2. JTAG 回路機能モデル 2.3. JTAG バウンダリー・スキャン・レジスター
2.3. JTAG バウンダリー・スキャン・レジスター x
2.3.1. MAX® 10 I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セル
3. JTAG BST 動作コントロール x
3.1. JTAG IDCODE 3.2. JTAG セキュアモード 3.3. JTAG プライベート命令 3.4. JTAG 命令
8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報 x
A.1. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの改訂履歴
1. MAX® 10 JTAG BST の概要
2. JTAG BST のアーキテクチャー
3. JTAG BST 動作コントロール
4. JTAG チェーンでのI/O 電圧のサポート
5. JTAG BST 回路を有効または無効にする
6. JTAG BST のガイドライン
7. バウンダリー・スキャン記述言語のサポート
8. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの追加情報

A.1. MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイドの改訂履歴

日付 バージョン 変更内容
2017年2月 2017.02.21 ブランド名を「インテル」に変更
2015年5月 2015.05.04 「概要」の項にバウンダリー・スキャン・テストの実行についての注を追加
2014年9月 2014.09.22 初版
レベル 2 の表題