| SAMPLE/PRELOAD |
00 0000 0101 |
- 初期データパターンがデバイスピンで出力になることを許可する
- デバイスが通常動作中の場合、デバイスピンで信号のスナップショットをキャプチャーして調べることを可能にする
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| EXTEST 1 |
00 0000 1111 |
- テストパターンを出力ピンへと強制し、入力ピンでテスト結果をキャプチャーする
- 外部回路およびボードレベルでの相互接続のテストを可能にする
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| BYPASS |
11 1111 1111 |
- TDI ピンとTDO ピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置する
- デバイスの通常動作中にBST データがターゲットデバイスから隣接するデバイスへと同期的に通過することを可能にする
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| USERCODE |
00 0000 0111 |
- TDI ピンとTDO ピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置する
- USERCODE をTDO ピンからシリアルにシフトアウトすることを可能にする
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| IDCODE |
00 0000 0110 |
- IDCODE レジスターを選択し、TDI ピンとTDO ピンの間に配置する
- IDCODE をTDO ピンからシリアルにシフトアウトすることを可能にする
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| HIGHZ 1 |
00 0000 1011 |
- TDI ピンとTDO ピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置する。1 ビットのバイパスレジスターはすべてのI/O ピンをトライステートにする
- デバイスが通常モードで動作している場合に、BST データがターゲットデバイスから隣接するデバイスへと同期的に通過することを可能にする
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| CLAMP 1 |
00 0000 1010 |
- TDI ピンとTDO ピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置する。1 ビットのバイパスレジスターは、バウンダリー・スキャン・レジスターのデータによって定義された状態にI/O ピンをホールドする
- デバイスが通常モードで動作している場合に、BST データがターゲットデバイスから隣接するデバイスへと同期的に通過することを可能にする
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| USER0 |
00 0000 1100 |
- MAX® 10 ロジックアレイのTDI ピンとTDO ピンの間のスキャンチェーンを定義可能にする
- この命令は、カスタムロジックおよびJTAG インターフェイスに使用される
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| USER1 |
00 0000 1110 |
- MAX® 10 ロジックアレイのTDI ピンとTDO ピンの間のスキャンチェーンを定義可能にする
- この命令は、カスタムロジックおよびJTAG インターフェイスに使用される
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