MAX 10 JTAG バウンダリー・スキャン・テスト・ユーザーガイド

ID 683210
日付 2/21/2017
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1. MAX® 10 JTAG BST の概要

更新対象:
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MAX® 10 デバイスは、IEEE Std. 1149.1(JTAG)BST(バウンダリー・スキャン・テスト)をサポートしています。

BST を実行すると、物理的なテストプローブを使用せずにピンの接続をテストすることができ、また、通常動作中に機能データをキャプチャーすることができます。デバイスのBSC(バウンダリー・スキャン・セル)は、信号をピンにフォースすること、あるいはピンやコアロジック信号からデータをキャプチャーすることができます。フォースされたテストデータは、シリアルにBSC にシフトインされます。キャプチャーされたデータは、シリアルにシフトアウトされ、外部で期待値と比較されます。

注: BST は、MAX 10 デバイスのコンフィグレーション時やその前、あるいは完了後に行うことができます。