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1. MAX® 10 JTAG BST の概要
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MAX® 10 デバイスは、IEEE Std. 1149.1（JTAG）BST（バウンダリー・スキャン・テスト）をサポートしています。
BST を実行すると、物理的なテストプローブを使用せずにピンの接続をテストすることができ、また、通常動作中に機能データをキャプチャーすることができます。デバイスのBSC（バウンダリー・スキャン・セル）は、信号をピンにフォースすること、あるいはピンやコアロジック信号からデータをキャプチャーすることができます。フォースされたテストデータは、シリアルにBSC にシフトインされます。キャプチャーされたデータは、シリアルにシフトアウトされ、外部で期待値と比較されます。
注: BST は、MAX 10 デバイスのコンフィグレーション時やその前、あるいは完了後に行うことができます。