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1.7.1. シングル・イベント・アップセット（SEU）の緩和
集積回路およびFPGAなどのプログラマブル・ロジック・デバイスはSEU に対する感受性が強いです。SEU は、アルファ粒子と宇宙線からの中性子という2 つの主要な放射線源に起因する、ランダムで非破壊的な現象です。放射線は、論理レジスター、エンベデッド・メモリー・ビット、またはCRAM（コンフィグレーションRAM）ビットのいずれかの状態を反転させ、デバイスの予期しない動作を引き起こす可能性があります。
Arria V、Cyclone V、Stratix V および新しいデバイスは、以下のCRAM 機能を持っています。
- EDCRC（Error Detection Cyclical Redundance Checking）
- CRAM のSEU の自動的な訂正（スクラブ）
- CRAM のSEU 状態を作る機能（フォールト・インジェクション）
アルテラ デバイスにおけるSEU の緩和について詳しくは、該当するデバイスのハンドブックでSEU の緩和の章を参照してください。