バウンダリースキャン・ツール
バウンダリースキャン・テスト (BST) アーキテクチャーは、PCB 上に狭いリード間隔で実装されているコンポーネントを効率的にテストする機能を提供します。この BST アーキテクチャーでは、物理的なテストプローブを使用せずにピンの接続をテストすることができ、またデバイスの通常動作中に機能データをキャプチャーできます。デバイスのバウンダリースキャン・セルは信号をピンに強制的に出力するか、あるいはピンまたはコアロジック信号からデータをキャプチャーします。強制テストデータはバウンダリースキャン・セルに連続してシフトインされます。キャプチャーされたデータは、連続してシフトアウトされ、外部で期待値と比較されます。
バウンダリースキャン・ツールには、インテル® MAX® II、インテル® MAX® 3000A、インテル® MAX® 7000AE、インテル® MAX® 7000B デバイスなどのインテル® FPGA デバイス向けの IEEE 標準 1149.1 コントローラーを活用する、インシステム・プログラマビリティー (ISP) 機能を搭載しています。これらのデバイスは、IEEE 標準 1149.1 テスト・アクセス・ポート (TAP) インターフェイスを活用する IEEE 1532 プログラミングをサポートしています。