Nios® II CRC アクセラレーションのデザイン例

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概要

巡回冗長検査 (CRC) アルゴリズムは、トランスミッションのデータ破損を検出し、単純なチェックサムよりも高い割合でエラーを検出します。CRC計算は、反復アルゴリズムで構成され、XOR およびソフトウェアよりもハードウェアでより速くエグゼキュートするシフト演算を含みます。このデザインでは、CRC-32 標準を使用しています。これは、Nios® II エンベデッド・プロセッサーと共にカスタム・コンポーネントとして実装されています。このデザインでは、5Gbps を超えるスループットを実現し、機能をハードウェアで実行することにより達成できるレベルのパフォーマンス向上を示します。

機能

  • 1 ~ 128 ビット間の CRC アルゴリズムをサポート
  • CRC コンポーネントのスループットは、MHz あたり 32 ビット
  • 8、16、24、および 32 ビットのデータパス
  • ソフトウェアのみの実装よりも最大 2000 倍のスピード向上
  • 0 サイクル書き込みレイテンシーおよび 1 サイクル読み取りレイテンシーの低レイテンシー・パフォーマンス
  • Stratix® II および Cyclone® II FPGA を対象とした 2 つの例

ブロック図

図 1 は、Avalon® CRC コンポーネントのブロック図を示しています。

図 1.Avalon® CRC コンポーネントのブロック図。

注:

  1. データパス = crc_width

このデザイン例を使用

CRC デザイン例 (.zip ファイル) をダウンロード

このデザインの使用には、インテル® デザイン例ライセンス契約の条件が適用されます。

.zip ファイルには、例を再現するのに必要なすべてのハードウェアおよびソフトウェアのファイル、ならびに readme.txt ファイルが含まれます。readme.txt ファイルには、デザインを再構築するための手順が含まれています。