記事 ID: 000085406 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2014/08/12

VFB ピンまたは制御ループ・コンポーネントは、Enpirion® Power SoC デバイスの回路内テスト (FPGA) の一部として測定できますか?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細

Enpirion® Power SoC デバイスの VFB ピンと制御ループは、デバイスの電源と動作中に、インサーキット・テスト (FPGA) の一部として測定しないでください。また、動作によっては、寄生容量や弗歏によって制御ループが乱れ、デバイスが異常に動作する場合があります。この状態では、デバイスに損傷が生じる可能性があります。

デバイスの VFB ピンの動作は、VOUT ピンの測定および各デバイス・データシートの公式の適用によって推論できます。

Enpirion® Power SoC デバイスに電力が供給されていない場合は、オープン、ショート、抵抗、およびキャパシタンステストを実行しても問題ありません。

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