記事 ID: 000085149 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2012/09/11

Altera Single Event Upsets (SEU) のコンフィグレーション・デバイスをテストしますか?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細

いいえ、Alteraは SEU 向けコンフィグレーション・デバイスをテストしません。

コンフィグレーション・デバイスはフラッシュデバイスであり、中性子やアルファ粒子に影響を及ぼします。 ロジック・レジスターには Nelakengible SEU 感度が存在する可能性があり、非常に低い故障率のため、デバイスはテストされていません。

業界標準の文書および学会の文書は、そのようなフラッシュメモリー・デバイスの故障時間率 (FIT レート) が非常に小さいことを示しています。

関連製品

本記事の適用対象: 2 製品

インテル® FPGA コンフィグレーション・デバイス
インテル® プログラマブル・デバイス

このページのコンテンツは、元の英語のコンテンツを人力翻訳および機械翻訳したものが混在しています。この内容は参考情報および一般的な情報を提供するためものであり、情報の正確さと完全性を保証するものではありません。インテルは不正確な翻訳があった場合でもいかなる責任を負いません。このページの英語版と翻訳の間に矛盾がある場合は、英語版に準拠します。 このページの英語版をご覧ください。