記事 ID: 000084637 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2012/09/11

Cycloneデバイス LVDSCLKn バウンダリースキャン・エラーが発生する理由

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細 パワーアップ時に CLK0 & CLK2 が有効になっている間に CLK1& CLK3 が無効になっているため、Cyclone®デバイス LVDSCLKn Boundary-Scan Failure が発生する場合があります。バウンダリー・スキャン・テストで CLK1 または CLK3 を検証する必要がある場合、CONFIG_IO命令を使用してクロックピンをコンフィグレーションすることで、クロックピンの入力バッファーを有効にすることができます。

これは、コンフィグレーション前のバウンダリー・スキャン・テストを実施する前に、電源を入れた後にCONFIG_IO命令を適用することで行うことができます。を参照してください。
MorphIO: Altera デバイス向け I/O リコンフィグレーション・ソリューション (PDF) 詳細については、CONFIG_IO手順を参照してください。

コンフィグレーション前のバウンダリー・スキャン・テストでこれらの CLK ピンをテストする場合は、 Cyclone 1149.1 バウンダリー・スキャン記述言語 (BSDL) ファイル.

これらの CLK ピンがバウンダリー・スキャン・テストのために JTAG チェーンに含まれる必要がない場合は、最新の Cyclone 1149.1 BSDL ファイル.

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インテル® Cyclone® FPGA

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