詳細
VCCIOBP マイクロシステム・プログラマーを使用して EPM7128S デバイス上のピンの継続テスト中に、以下のピンが継続エラーとなる場合があります。
- 84 ピン J リード・チップ・キャリア (PLCC) パッケージのピン 78
- ピン 82 on 100 ピン・シン・クアッド・フラット・パック (TQFP) パッケージ
- ピン 84 on 100 ピン・クアッド・フラット・パック (QFP) パッケージ
- ピン 133 160 ピン QFP パッケージ
Alteraこれらの VCCIO ピンはダイ上の何にも結合しないことがあり、これらの切断 VCCIO されたピンは継続エラーの原因となります。これらのデバイスのアルテラのプログラミング仕様は、これらのピンの継続性テストを必要としません。また、MPU はこのテストを実行しません。ただし、一部のベンダーはプログラマーにこの機能を提供しています。BP マイクロシステムは、プログラマー向けにプログラミング・アルゴリズムを更新して、これらのピンを継続性テストに含めなくなりました。
最新の BP マイクロシステム・アルゴリズムを入手するには、http://www.bpmicro.com の Web サイトにアクセスしてください。