記事 ID: 000079886 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2021/08/28

トランシーバー I/O ピンでプリコンフィグレーション BSDL ファイルを使用すると、IEEE 1149.6 JTAG テストに失敗するのはなぜですか?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細 デバイスが設定されていない場合、トランシーバー I/O ピンの IEEE 1149.6 JTAG テストに失敗する.
解決方法

トランスシエバピンで IEEE 1149.6 JTAG テストを実行する前に、最初に有効なビットストリームを使用してデバイスを設定する必要があります。トランシーバーの JTAG バウンダリー・スキャン・サポートでは、コンフィグレーション後の BSDL ファイルを使用する必要があります。

これは、サポートAltera®トランシーバー対応デバイスに適用されます。IEEE 1149.6 BSDL ファイル.

関連製品

本記事の適用対象: 1 製品

インテル® プログラマブル・デバイス

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