記事 ID: 000078625 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2021/08/27

ハード・プロセッサー・システム (HPS) の JTAG ピン上でバウンダリー・スキャン・テストを実行することは可能ですか?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細

いいえ、HPS JTAG ピン上でバウンダリー・スキャン・テストを実行することはできません。しかし、HPS I/O ピンによっては、FPGAの JTAG ピンを介したバウンダリー・スキャン・テストをサポートしています。Cyclone® V SoC デバイス向け Quartus® II ソフトウェアを介して生成された BSDL ファイルには、バウンダリー・スキャンをサポートする HPS I/O ピンが含まれます。

注: Cyclone V SoC FPGAsでは、HPS とFPGAの両方をパワーアップしてバウンダリー・スキャン・テスト (BST) を実行する必要があります。

関連製品

本記事の適用対象: 3 製品

Cyclone® V SX SoC FPGA
Cyclone® V ST SoC FPGA
Cyclone® V SE SoC FPGA

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