記事 ID: 000077754 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2021/08/27

BST 中の未構成のAPEX E またはMercuryデバイスの I/O 特性は?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細 未設定のAPEX™ E またはMercury™デバイスの BST (Boundary-Scan Test) 中、プログラムされていないデバイスの I/O ピンは EXTEST の前後にトライステートされます。

EXTEST 中、I/O ピンはテストベクターに基づいてドライブアウトします。

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本記事の適用対象: 1 製品

Apex™ 20KE

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