記事 ID: 000074828 コンテンツタイプ: トラブルシューティング 最終改訂日: 2021/08/28

ALTERA デバイスに対する X 線放射の影響とは?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
詳細 一般的なテスト目的では、X 線を使用したプリント基板 (PCB) の検査は、 デバイスAltera害を及ぼします。これは、SRAM、EPROM-、EEPROM-、およびフラッシュベースに適用されます。 デバイス。例えば、ボールグリッドを備えた PCB 上のはんだ付け接続の X 線検査 アレイ (BGA) パッケージは、Alteraデバイスに損傷を与えません。

Alteraは X 線放射線に関する社内調査を実施しており、結果は 100KV および 75 個の KVM の X 線に導入されたユニットが、最大 105 氾汰の放射が機能的に良好であることを示しています。X 線検査の一般的な露出レベルは、1000 Roentgen

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