はい。 ユーザー I/O エレメントの仕様により、ユーザー I/O ピンは、弱いプルアップによる入力トライステートから、Stratix® V デバイスの初期化ステージの LVDS I/O 規格への移行中に高いドライブを実現します。
そのため、LVDS I/O 標準として設計されたユーザー I/O ピンの状態は、初期化ステージで、弱いプルアップから VCCIO(VCCIO から駆動されるハイステート)から LVDS I/O 規格に変化します。
はい。 ユーザー I/O エレメントの仕様により、ユーザー I/O ピンは、弱いプルアップによる入力トライステートから、Stratix® V デバイスの初期化ステージの LVDS I/O 規格への移行中に高いドライブを実現します。
そのため、LVDS I/O 標準として設計されたユーザー I/O ピンの状態は、初期化ステージで、弱いプルアップから VCCIO(VCCIO から駆動されるハイステート)から LVDS I/O 規格に変化します。
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