インテル® Stratix® 10 デバイスは、IEEE Std. 1149.1 BSTとIEEE Std. 1149.6 BSTをサポートします。バウンダリー・スキャン・テスト(BST)を実行する際、物理的なテストプローブを使用せずにピン接続をテストし、通常動作中に機能データをキャプチャーすることができます。デバイスのバウンダリー・スキャン・セル(BSC)は、ピンに信号を強制したり、ピンあるいはコアロジック信号からデータをキャプチャーすることができます。強制されたテストデータは、順にBSCへとシフトインします。キャプチャーされたデータは、順にシフトアウトし、外部で期待値と比較されます。

インテル® Stratix® 10 デバイスは複数のダイを使用してパッケージに実装されており、エンベデッド・マルチダイ・インターコネクト・ブリッジ(EMIB)テクノロジーにより結合されています。このマルチダイの実装はBSTに対して等価的です。デバイスに対して単一のバウンダリー・スキャン・チェインが存在し、これにはパッケージ内のすべてのダイが含まれます。

BSTは、インテル® Stratix® 10 デバイスのコンフィグレーション実行前と実行後だけでなく、コンフィグレーションの実行中にも実行することができます。

バウンダリー・スキャン・レジスターは、TDIピンを入力、そしてTDOピンを出力として使用する大規模なシリアル・シフト・レジスターです。バウンダリー・スキャン・レジスターは、各I/O ピンのバウンダリー・スキャン・セルとパディングビットで構成されています。バウンダリー・スキャン・レジスターは、外部ピンとの接続をテストしたり内部データをキャプチャーするために使用することができます。

インテル®^® Stratix^® 10 デバイスの3ビット BSCは、以下のレジスターで構成されています。

• キャプチャーレジスター—OUTJ、OEJと PIN_IN 信号を介して内部デバイスデータへ接続します
• アップデートレジスター— PIN_OUT と PIN_OE 信号を介して外部データへ接続します

TAPコントローラーはIEEE Std. 1149.1 BSTレジスターへのグローバルコントロール信号 (shift、clockとupdate) を内部で生成します。命令レジスターのデコードは、MODE信号を生成します。

バウンダリー・スキャン・レジスターのデータ信号パスは、SDI (Serial Data In) 信号からSDO (Serial Data Out) 信号に続いています。スキャンレジスターは、デバイスのTDIピンから始まりTDOピンで終わります。

インテル®^® Stratix^® 10 デバイスのHSSIトランスミッター ( GXB_TX[p,n] ) とレシーバー/入力クロック・バッファー ( GXB_RX[p,n] ) / ( REFCLK[p,n] ) のBSCは、I/Oピン用のBSCとは異なります。

インテル®^® Stratix^® 10 デバイスのJTAGセキュアモードは、セキュア・デバイス・マネージャー (SDM) を介してサポートされています。

コンフィグレーションを中断することなく、BYPASS、IDCODE、SAMPLE JTAG 命令をコンフィグレーションの前、後あるいはコンフィグレーション中に発行することができます。

BSTを実行する目的でコンフィグレーションを中断するには、nCONFIGをLowに保持するか、JTAGを使用して次のシーケンスを発行します。つまり、0x201 (COMMAND) でIRスキャンを更新し、次に34'h3_0000_0000と35'h1_0000_0005で2個の34ビットDRスキャンを更新します。設定が中断されると、他のJTAG命令を発行してBSTを実行できます。コンフィグレーションが中断されると、BSTを実行するよう他のJTAG命令が発行可能となります。

インテル®^® Stratix^® 10デバイスのJTAG コンフィグレーションを行うボードをデザインする場合には、専用コンフィグレーション・ピンの接続について考慮する必要があります。

IEEE Std. 1149.1 BST回路は、 インテル®^® Stratix^® 10 デバイスのパワーアップ後にイネーブルされます。

必要ではないときに不用意にIEEE Std. 1149.1回路を有効にしないように、以下の表にリストしているピン接続によって常に回路を無効にしておきます。

IEEE Std. 1149.1デバイスでBSTを実行する際には、以下のガイドラインを考慮します。

• SHIFT_IR ステートで、インストラクション・レジスターからシフトアウトされる最初の2ビットが1でなく、0の場合、TAPコントローラーが適切なステートに達しなかったことを意味します。この問題を解決するには、以下の手順のいずれかを実行します。
  • TAPコントローラーが適切に SHIFT_IR ステートに入ったことを確認します。TAPコントローラーを SHIFT_IR ステートに進めるには、TEST-LOGIC-RESETステートに戻り、 01100 コードをTMSピンに送ります。
  • デバイスのVCC、GND、JTAGならびに専用コンフィグレーション・ピンとの接続を確認します。
• 最初のEXTESTテストサイクルの前に SAMPLE/PRELOAD テストサイクルを実行して、EXTESTモードに入る時点でデバイスピンに確実に既知のデータを存在させます。OEJアップデート・レジスターに0が含まれていれば、OUTJアップデート・レジスターのデータが出力駆動されます。システムの他のデバイスとの衝突を避けるためには、ステートが既知であり、精確でなければいけません。
• in-circuitリコンフィグレーション中のEXTESTはサポートされていないため、in-circuitリコンフィグレーション時にEXTESTテストは実行しないでください。
• コンフィグレーション後は、差動ピンペアのいずれのピンもテストすることができません。コンフィグレーション後にBSTを実行するには、これらの差動ピンペアに対応するBSCグループを内部セルとして編集、再定義します。