1. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック
3. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける可変精度 DSP ブロック
4. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL
5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるI/Oと高速I/O
6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス
7. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスのコンフィグレーション、デザインのセキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード
8. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける SEUの緩和
9. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでのJTAGバウンダリー・スキャン・テスト
10. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるパワー・マネジメント
2.1. エンベデッド・メモリーの種類
2.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン
2.3. エンベデッド・メモリーの機能
2.4. エンベデッド・メモリー・モード
2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード
2.6. メモリーブロックでのパリティービット
2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル
2.8. メモリーブロックのパックモード・サポート
2.9. メモリーブロックのアドレス・クロック・イネーブルのサポート
2.10. メモリーブロックの非同期クリアー
2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート
2.12. インテル® Cyclone® デバイスにおけるエンベデッド・メモリーブロックの改訂履歴
5.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O と差動 I/O バッファー
5.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスにおける I/O 規格と電圧レベル
5.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおけるインテルFPGA I/O IP コア
5.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O リソース
5.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O のアーキテクチャーと一般機能
5.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける高速ソース・シンクロナス SERDES および DPA
5.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の使用
5.8. デバイスにおけるI/Oと高速I/O
5.7.1. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン
5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在
5.7.3. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない
5.7.4. ガイドライン : 最大 DC 電流制限
5.7.5. ガイドライン: LVDS SERDES IPコアのインスタンス化
5.7.6. ガイドライン : ソフト CDR モードの LVDS SERDES ピンペア
5.7.7. ガイドライン : インテル® Cyclone® 10 GX GPIO 性能でのジッターへの高影響の最小化
5.7.8. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
6.1. インテル® Cyclone® 10 GX 外部メモリー・インターフェイス・ソリューションの主な特徴
6.2. インテル® Cyclone® 10 GXデバイスでサポートされるメモリー規格
6.3. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス幅
6.4. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスI/Oピン
6.5. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスパッケージのメモリー・インターフェイスのサポート
6.6. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
6.7. インテル® Cyclone® 10 GX デバイスでの外部メモリー・インターフェイスのアーキテクチャー
6.8. デバイスでの外部メモリー・インターフェイス
8.2.1.1. EDCRC(Error Detection Cyclic Redundancy Check)
ユーザーモードでは、コンフィグレーションされたCRAM(Configuration RAM)ビットの内容が、ソフトエラーによる影響を受ける可能性があります。これらのソフトエラーはイオン化した粒子によって引き起こされますが、Intel FPGAのデバイスにおいて頻繁に発生するものではありません。しかし、エラーのないデバイス動作を要求する高信頼性アプリケーションでは、デザインでこれらのエラーについて考慮されていることが要求されます。
ハード化されたオンチップ EDCRC 回路では、フィッティングやデバイスの性能に影響を与えず、次の動作を行うことができます。
- コンフィグレーション中に巡回冗長検査 (CRC) エラーを自動検出します。
- ユーザーモードでのオプションのソフトエラー(SEUとMBU)検出と識別
- 高速ソフトエラー検出。エラー検出速度が向上
- 2種類のチェック・ビット
- フレームベースのチェック・ビット — CRAM に格納され、フレームのインテグリティの検証に使用される
- カラム・ベースのチェック・ビット — レジスターに格納され、すべてのフレームのインテグリティの保護に使用される
ユーザー・モードでのエラー検出時には、 インテル® Cyclone® 10 GXデバイスで複数のEDCRCエンジンが並列的に動作します。エラー検出CRCエンジンの数は、フレーム内の合計ビット数であるフレーム長に依存します。
カラム・ベースの各エラー検出CRCエンジンがそれぞれのフレームから128ビットを読み出し、4サイクル以内に処理します。エラーを検出するために、エラー検出CRCエンジンは全てのフレームをリードバックする必要があります。
図 153. ユーザーモードでのエラー検出のブロック図以下のブロック図に、ユーザー・モードでのレジスターおよび、データ・フローを示します。
| レジスター名 | 説明 |
|---|---|
| エラー・メッセージ・レジスター(EMR) | 1 ビット・エラーまたは隣接する 2 ビット・エラーの詳細を備えます。エラー検出回路がエラーを検出するたびに回路がレジスターを更新します。 |
| ユーザー・アップデート・レジスター | このレジスターは、EMRの内容が検証された1クロック・サイクル後にEMRレジスターの内容で自動的に更新される。ユーザー・アップデート・レジスターはクロック・イネーブルを含み、これはユーザー・アップデート・レジスターの内容がユーザー・シフト・レジスターに書き込まれる前にアサートされる必要がある。この条件により、その内容がユーザー・シフト・レジスターに読み出される際にユーザー・アップデート・レジスターの内容が上書きされることを防ぐ。 |
| ユーザー・シフトレジスター | このレジスターにより、ユーザーロジックがコア・インターフェイスを介してユーザー・アップデート・レジスターの内容にアクセスすることができる。 ユーザー・シフトレジスターを介してEMR情報をシフトアウトするために、Altera Error Message Register Unloader IP コアを使用する。詳細については関連情報を参照。 |
| JTAGアップデート・レジスター | このレジスターは、EMRの内容が検証された1 クロックサイクル後にEMRレジスターの内容で自動的に更新される。JTAGアップデート・レジスターはクロック・イネーブルを含み、これはJTAGアップデート・レジスターの内容がJTAGシフトレジスターに書き込まれる前にアサートされる必要がある。この条件により、その内容がJTAGシフトレジスターに読み出される際にJTAGアップデート・レジスターの内容が上書きされることを防ぐ。 |
| JTAG シフトレジスター | このレジスターにより、SHIFT_EDERROR_REG JTAG 命令を使用して、JTAG インターフェイスを介してJTAGアップデート・レジスターの内容にアクセスすることができる。 |