3.1. ガイドライン:VCCIO範囲における検討事項
3.2. ガイドライン: 電圧リファレンスのI/O規格に関する制約
3.3. ガイドライン:LVTTL / LVCMOS入力バッファのクランプ・ダイオードを有効にする
3.4. ガイドライン: LVDSのI/O制約規則に対する準拠
3.5. ガイドライン:I/O制約のルール
3.6. ガイドライン:アナログ-デジタル・コンバータのI/O制約
3.7. ガイドライン: 外部メモリー・インターフェイスのI/Oに関する制約
3.8. ガイドライン:兼用コンフィグレーション・ピン
3.9. ガイドライン: MAX® 10 E144パッケージのクロックおよびデータ入力信号
2.3.2.4. プログラマブル・ドライブ能力
プログラマブル・ドライブ能力を使用して、長い伝送経路またはレガシー・バックプレーンに起因するHigh信号減衰による影響を緩和することができます。
| I/O規格 | IOH / IOLドライブ能力設定(mA) (太字はデフォルト設定) |
|---|---|
| 3.3 V LVCMOS | 2 |
| 3.3 V LVTTL | 8、4 |
| 3.0 V LVTTL/3.0 V LVCMOS | 16、12、8、4 |
| 2.5 V LVTTL/2.5 V LVCMOS | 16、12、8、4 |
| 1.8 V LVTTL/1.8 V LVCMOS | 16、12、10、8、6、4、2 |
| 1.5 V LVCMOS | 16、12、10、8、6、4、2 |
| 1.2 V LVCMOS | 12、10、8、6、4、2 |
| SSTL-2 Class I | 12、8 |
| SSTL-2 Class II | 16 |
| SSTL-18 Class I | 12、10、8 |
| SSTL-18 Class II | 16、12 |
| SSTL-15 Class I | 12、10、8 |
| SSTL-15 Class II | 16 |
| 1.8 V HSTL Class I | 12、10、8 |
| 1.8 V HSTL Class II | 16 |
| 1.5 V HSTL Class I | 12、10、8 |
| 1.5 V HSTL Class II | 16 |
| 1.2 V HSTL Class I | 12、10、8 |
| 1.2 V HSTL Class II | 14 |
| BLVDS | 16、12、8 |
| SLVS | 16、12、8 |
| Sub-LVDS | 12、8、4 |
注: Intelは、特定のアプリケーションに最適なドライブ強度設定を決定するために、IBIS または SPICE シミュレーションを実行することを推奨します。