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1. インテル® Agilex™ ハード・プロセッサー・システムのテクニカル・リファレンス・マニュアル改訂履歴
2. ハード・プロセッサー・システムの概要
3. Cortex-A53 MPCore Processor
4. Cache Coherency Unit
5. System Memory Management Unit
6. システム・インターコネクト
7. ブリッジ
8. DMAコントローラー
9. オンチップRAM
10. ECC (エラー検出訂正) コントローラー
11. Clock Manager
12. システム・マネージャー
13. Reset Manager
14. ハード・プロセッサー・システムのI/Oピンの多重化
15. NANDフラッシュ・コントローラー
16. SD/MMCコントローラー
17. イーサネット・メディア・アクセス・コントローラー
18. USB 2.0 OTG Controller
19. SPIコントローラー
20. I2Cコントローラー
21. UARTコントローラー
22. 汎用I/Oインターフェイス
23. タイマー
24. ウォッチドッグ・タイマー
25. CoreSightのデバッグとトレース
A. ブートとコンフィグレーション
B. Accessing the Secure Device Manager Quad SPI Flash Controller through HPS
3.5.1. 例外レベル
3.5.2. 仮想化
3.5.3. メモリー管理ユニット
3.5.4. レベル1キャッシュ
3.5.5. レベル2メモリーシステム
3.5.6. スヌープ制御ユニット
3.5.7. 暗号化による拡張
3.5.8. NEONマルチメディア・プロセッシング・エンジン
3.5.9. 浮動小数点演算装置
3.5.10. ACEバス・インターフェイス
3.5.11. アボート処理
3.5.12. キャッシュ保護
3.5.13. 汎用割り込みコントローラー
3.5.14. 汎用タイマー
3.5.15. デバッグモジュール
3.5.16. キャッシュ・コヒーレンシー・ユニット
3.5.17. クロックソース
25.4.1. デバッグ・アクセス・ポート
25.4.2. CoreSight SoC-400タイムスタンプ・ジェネレーター
25.4.3. システム・トレース・マクロセル
25.4.4. トレースファネル
25.4.5. CoreSightのトレース・メモリー・コントローラー
25.4.6. AMBAトレース・バス・レプリケーター
25.4.7. トレース・ポート・インターフェイス・ユニット
25.4.8. NoCトレースポート
25.4.9. エンベデッド・クロス・トリガー・システム
25.4.10. エンベデッド・トレース・マクロセル
25.4.11. HPSのデバッグAPBインターフェイス
25.4.12. FPGAインターフェイス
25.4.13. デバッグクロック
25.4.14. デバッグのリセット
19.4.4.1. RXDのサンプル遅延
SPIマスターデバイスでは、rxd信号のデフォルトのサンプル時間を遅らせ、シリアルバスで達成可能な最大周波数を上げることが可能です。
マスターからのsclk_out信号とスレーブからのrxd信号の往復ルーティング遅延は、マスターからの視点において、rxd信号のタイミングが通常のサンプリング時間から外れることを意味します。
RXDのサンプル遅延がない場合は、転送のボーレートを上げて、rxd信号のセットアップ時間を範囲内にする必要があります。これにより、シリアル・インターフェイスの周波数が低下します。
SPIマスターには、rxd信号のデフォルトのサンプル時間を遅延する追加ロジックが含まれています。この追加ロジックは、シリアルバスで達成可能な最大周波数を上げるのに効果的です。†
RXD Sample Delay (rx_sample_dly) レジスターのrsdフィールドに書き込みを行い、rxdのサンプルに適用する追加遅延量を指定します。遅延は、l4_main_clkクロックのサイクル数で、最大64サイクルが許可されます (0は予約済みです)。rsdフィールドが64を超える値でプログラムされている場合、rxdのサンプルには0遅延が適用されます。
サンプル遅延ロジックの分解能は、l4_main_clkの1サイクルです。ソフトウェアでは、マスターが正しいデータを受信するまでスレーブから継続的に読み出しを行い、マスターのRXDサンプル遅延値を増加するループをコーディングすることにより、シリアルバスを「トレーニング」することができます。†
図 85. sclk_out信号における往復ルーティング遅延の影響