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1. インテル® Agilex™ハード・プロセッサー・システムのテクニカル・リファレンス・マニュアル改訂履歴
2. ハード・プロセッサー・システムの概要
3. Cortex-A53 MPCoreプロセッサー
4. キャッシュ・コヒーレンシー・ユニット
5. システムメモリー管理ユニット
6. システム・インターコネクト
7. HPSのブリッジ
8. DMAコントローラー
9. オンチップRAM
10. ECC (エラー検出訂正) コントローラー
11. クロック・マネージャー
12. リセット・マネージャー
13. システム・マネージャー
14. ハード・プロセッサー・システムのI/Oピンの多重化
15. NANDフラッシュ・コントローラー
16. SD/MMCコントローラー
17. イーサネット・メディア・アクセス・コントローラー
18. USB 2.0 OTGコントローラー
19. SPIコントローラー
20. I2Cコントローラー
21. UARTコントローラー
22. 汎用I/Oインターフェイス
23. タイマー
24. ウォッチドッグ・タイマー
25. CoreSightのデバッグとトレース
A. ブートとコンフィグレーション
B. HPSを介したセキュア・デバイス・マネージャーQuad SPIフラッシュ・コントローラーへのアクセス
3.5.1. 例外レベル
3.5.2. 仮想化
3.5.3. メモリー管理ユニット
3.5.4. レベル1キャッシュ
3.5.5. レベル2メモリーシステム
3.5.6. スヌープ制御ユニット
3.5.7. 暗号化による拡張
3.5.8. NEONマルチメディア・プロセッシング・エンジン
3.5.9. 浮動小数点演算装置
3.5.10. ACEバス・インターフェイス
3.5.11. アボートの処理
3.5.12. キャッシュ保護
3.5.13. 汎用割り込みコントローラー
3.5.14. 汎用タイマー
3.5.15. デバッグモジュール
3.5.16. キャッシュ・コヒーレンシー・ユニット
3.5.17. クロックソース
25.4.1. デバッグ・アクセス・ポート
25.4.2. CoreSight SoC-400タイムスタンプ・ジェネレーター
25.4.3. システム・トレース・マクロセル (STM)
25.4.4. トレースファネル
25.4.5. CoreSightのトレース・メモリー・コントローラー
25.4.6. AMBAトレース・バス・レプリケーター
25.4.7. トレース・ポート・インターフェイス・ユニット
25.4.8. NoCトレースポート
25.4.9. エンベデッド・クロス・トリガー・システム
25.4.10. エンベデッド・トレース・マクロセル
25.4.11. HPSのデバッグAPBインターフェイス
25.4.12. FPGAインターフェイス
25.4.13. デバッグクロック
25.4.14. デバッグのリセット
10.4.4.4.1.3. ダブルビット・エラーのテスト
このシーケンスでは、ECCデコーダーにおけるダブルビット・エラーの検出をテストします。
- CTRLレジスターのECC_ENビットを設定し、ECCを有効にします。
- ECC_accctrlレジスターのData Override (DATAOVR) ビットを設定します。
- 通常のメモリー書き込みを使用し、メモリーのアドレス位置にデータを書き込みます。正しいECCデータが生成されることが想定されます。
- ECC_WData3busレジスターからECC_WData0busレジスターに2ビットを変更したデータ値を書き込み、メモリー位置のアドレスを、ECC_Addrbusに書き込みます。
- ECC_accctrlレジスターを書き込みにコンフィグレーションし、ECC_startaccレジスターのENBUSAビットを設定して書き込みを開始します。メモリーがデュアルポートの場合は、ポートアクセスに応じて、ENBUSBビットをオプションで有効にすることができます。
- 通常のメモリー読み出しアクセスを使用して、同じメモリー位置を読み出します。ダブルビット・エラーは、データの訂正なしでログに記録されることが想定されます。エラーの特定に関しては、エラーのログの章を参照してください。
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