インテル® Arria® 10 コア・ファブリックおよび汎用 I/O ハンドブック

ID 683461
日付 6/21/2017
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ドキュメント目次

9.1.2. サポートされる JTAG 命令

表 114.   Arria® 10デバイスでサポートされる JTAG 命令
JTAG 命令 命令コード 概要
SAMPLE 39 / PRELOAD 00 0000 0101
  • 通常のデバイス動作中にデバイスピンから信号をキャプチャーあるいは検査することができるようにし、デバイスピンで初期のデータパターンを出力できるようにします。
  • この命令を使用して、EXTEST命令をロードする前にアップデート・レジスターにテストパターンをプリロードします。
EXTEST 00 0000 1111
  • 出力ピンでテストパターンをフォースすることにより、外部回路やボードレベルでのインターコネクトをテストできるようにし、入力ピンでテスト結果をキャプチャーします。出力ピンに既知のロジック High レベルと Low レベルをフォースすることにより、スキャンチェーン内の任意のデバイスのピンの開放と短絡とを検出することができます。
  • EXTESTのハイ・インピーダンス状態は、バスホールドやウィークプルアップ抵抗の機能によってオーバーライドされます。
BYPASS 11 1111 1111
  • TDIピンとTDOピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置します。デバイスの規定の動作時に、1 ビットのバイパスレジスターは BST データを選択されたデバイスから隣接するデバイスへと同期的に通過させます。
  • バイパスレジスターー出力での読み出しは「0」になります。
USERCODE 00 0000 0111 32 ビットUSERCODEレジスターを選択してTDIピンとTDOピンの間に配置すると、USERCODETDOにシリアルにシフトアウトできるようになります。
IDCODE 00 0000 0110
  • JTAG チェーン内のデバイスを識別します。IDCODEを選択すると、デバイス識別レジスターに32 ビットベンダー定義の識別コードがロードされます。
  • 32ビットのIDCODEレジスタを選択してTDIピンとTDOピンの間に配置すると、IDCODETDOにシリアルにシフトアウトできるようになります。
  • IDCODEは、電源投入時および TAP RESET ステートでのデフォルト命令です。いずれの命令もロードすることなく SHIFT_DR ステートに移行し、JTAG デバイス ID をシフトアウトすることができます。
HIGHZ 00 0000 1011
  • すべてのユーザー I/O ピンの駆動ステートを非アクティブに設定します。
  • TDIピンとTDOピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置します。規定の動作時に、1 ビットのバイパスレジスター・は新しい JTAG 命令が実行されるまですべての I/O ピンをトライステートにすると同時に、選択されたデバイスから隣接するデバイスへと BST データを同期的に通過させます。
  • コンフィグレーション後にデバイスをテストする場合、ピンのHIGHZ値はプログラマブル・ウィーク・プルアップ抵抗やバスホールドの機能によって、オーバーライドされます。
CLAMP 00 0000 1010
  • TDIピンとTDOピンの間に1 ビットのバイパスレジスターを配置します。規定の動作時に、1 ビットのバイパスレジスターはバウンダリー・スキャン・レジスターのデータにより定義されたステートに I/O ピンをホールドすると同時に、選択されたデバイスから隣接するデバイスへと BST データを同期的に通過させます。
  • コンフィグレーション後にデバイスをテストする場合、ピンのCLAMP値はプログラマブル・ウィーク・プルアップ抵抗またはバスホールド機能によってオーバーライドされます。CLAMP値はバウンダリー・スキャンセル (BSC) のアップデート・レジスターに格納された値です。
PULSE_NCONFIG 00 0000 0001 物理的なピンへの作用がなくてもリコンフィグレーションをトリガーするために、nCONFIGの Low へのパルスをエミュレーションします。
EXTEST_PULSE 00 1000 1111 次の 3 つの出力遷移を生成することにより、AC カップリングされているトランスミッターとレシーバーとのボードレベルでの接続をチェックします。
  • UPDATE_IR/DRステートではTCKの立ち下りエッジでドライバーがデータを駆動
  • RUN_TEST/IDLEステートに入ってからTCKの立ち下りエッジでドライバーが反転したデータを駆動
  • RUN_TEST/IDLEステートを出た後でTCKの立ち下りエッジでドライバーがデータを駆動
 
EXTEST_TRAIN 00 0100 1111 TAP コントローラーがRUN_TEST/IDLEステートである限り、出力がTCKの立ち下がりエッジでトグルし続けていることを除いて、 EXTEST_PULSE 命令と同じ動作をします。
SHIFT_EDERROR_REG 00 0001 0111 この JTAG 命令は、エラー検出ブロック内で EMR を JTAG ピンにTDIピンとTDOピンの間で接続します。
注: デバイスがリセット状態にありnCONFIGまたはnSTATUS信号が Low の場合、デバイスIDCODEが正しく読み出されない可能性があります。デバイスIDCODEを正しく読み出すには、IDCODE JTAG 命令をnCONFIGnSTATUS信号が High の際にのみ発行する必要があります。
39 SAMPLE JTAG 命令は、高速シリアル・インターフェイス (HSSI) ピン向けにはサポートされていません。