1. Arria® 10デバイスにおけるロジック・アレイ・ブロックおよびアダプティブ・ロジック・モジュール
2. Arria® 10デバイスにおけるエンベデッド・メモリー・ブロック
3. Arria® 10デバイスにおける可変精度 DSP ブロック
4. Arria® 10デバイスにおけるクロック・ネットワークおよび PLL
5. Arria® 10 デバイスにおける I/O と高速 I/O
6. Arria® 10 デバイスにおける外部メモリー・インターフェイス
7. Arria® 10デバイスにおけるコンフィグレーション、デザイン・セキュリティー、およびリモート・システム・アップグレード
8. Arria® 10デバイスにおける SEUの緩和
9. Arria® 10デバイスにおける JTAG バウンダリー・スキャン・テスト
10. Arria 10デバイスにおけるパワー・マネジメント
2.1. エンベデッド・メモリーの種類
2.2. Arria® 10デバイスにおけるエンベデッド・メモリー・デザイン・ガイドライン
2.3. エンベデッド・メモリーの機能
2.4. エンベデッド・メモリー・モード
2.5. エンベデッド・メモリーのクロッキング・モード
2.6. メモリーブロックでのパリティービット
2.7. エンベデッド・メモリー・ブロックでのバイトイネーブル
2.8. メモリーブロックのパックモード・サポート
2.9. メモリーブロックのアドレス・クロック・イネーブルのサポート
2.10. メモリーブロックの非同期クリアー
2.11. メモリーブロック誤り訂正コードのサポート
2.12. 改訂履歴
5.7.1. Arria® 10 デバイスにおける I/O および高速 I/O の一般的なガイドライン
5.7.2. 電圧リファレンス形式および非電圧リファレンス形式の I/O 規格の混在
5.7.3. ガイドライン : パワーシーケンス中に I/O ピンをドライブしない
5.7.4. ガイドライン : HPS 共有 I/O バンクでの I/O ピンの使用
5.7.5. ガイドライン : 最大 DC 電流制限
5.7.6. ガイドライン : アルテラ LVDS SERDES IP コアのインスタンス化
5.7.7. ガイドライン : ソフト CDR モードの LVDS SERDES ピンペア
5.7.8. ガイドライン : Arria 10 GPIO 性能でのジッターへの高影響の最小化
5.7.9. ガイドライン : 外部メモリー・インターフェイスのための I/O バンク 2A の使用
5.6.4.1.1. DPA ブロック
DPA ブロックは、差動入力バッファーから高速シリアルデータを取り込み、I/O PLL が生成する 8 つの位相のうち 1 つを選択してデータをサンプリングします。DPA はシリアルデータの位相に最も近い位相を選択します。受信データと選択された位相間の最大位相オフセットは 1/8 UI9であり、これは DPA の最大量子化誤差です。クロックの 8 つの位相は均等に分割され、45° の分解能を提供します。
図 103. DPA クロック位相とシリアル・データ・タイミングの関係次の図は、DPA クロックと着信シリアルデータ間の可能な位相関係を表しています。
DPA ブロックは、入力シリアルデータの位相を継続的に監視し、必要に応じて新しいクロック位相を選択します。オプションのrx_dpa_holdポートをアサートすることで、DPA が新しいクロックフェーズを選択できないようにすることができます。これは、各チャネルで使用可能です。
DPA 回路では、8 つの位相から最適な位相にロックするにあたって固定トレーニング・パターンは必要ありません。リセットまたはパワーアップ後、最適な位相にロックするために、DPA 回路は受信データにおける遷移を必要とします。オプションの出力ポートであるRX_DPA_LOCKEDを使用して、パワーアップまたはリセット後、最適な位相に初期の DPA ロック状態を示すことができます。データを検証するには、巡回冗長検査 (CRC) や DIP-4 ( 対角インターリーブ・パリティー ) などのデータチェッカーを使用します。
独立したリセットポートのRX_RESETを使用して、DPA 回路をリセットすることができます。なお、DPA 回路はリセット後に再トレーニングする必要があります。
注: DPA ブロックは非 DPA モードでバイパスされます。
9 UI ( ユニット間隔 ) は、シリアル・データ・レート ( 高速クロック ) で動作するクロックの周期です。