Arria® 10 デバイスの概要    

ID 683332
日付 10/31/2016
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ドキュメント目次

1.17. SEUエラーの検出と修正

Arria 10デバイスは、堅牢で使いやすい SEU(Single Event Upset)エラー検出ならびに訂正回路を提供します。

検出と訂正の回路には、コンフィグレーション RAM (CRAM) プログラミング・ビットとユーザーメモリーの保護が含まれます。CRAM は、連続的に動作する CRC エラー検出回路で保護されています。この回路には統合された ECC が装備されており、ECC は 1 ビットまたは 2 ビットのエラーを自動的に訂正し、それを超える複数ビットのエラーも検出します。エラーが 2 つ以上発生した場合、コア・プログラミング・ファイルのリロードにより訂正が実行され、FPGA が動作を継続する間、デザインが完全にリフレッシュされます。

Arria 10 CRAM アレイの物理的なレイアウトは、大部分の MBU(multi-bit upset)が内蔵の CRAM ECC 回路によって自動的に訂正される個別の1 ビットまたは2 ビット・エラーとして発生するように最適化されています。CRAM 保護に加えて、M20K メモリー・ブロックもエラー検出と訂正のために内蔵の ECC 回路を含み、レイアウトが最適化されています。MLAB は ECC を備えていません。