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1. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPについて
2. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – 概要
3. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - 製品アーキテクチャー
4. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - エンドユーザーの信号
5. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – メモリーIPのシミュレーション
6. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – DDR4のサポート
7. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – QDR-IVのサポート
8. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – タイミング・クロージャー
9. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー
10. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – コントローラーの最適化
11. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - デバッグ
12. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPユーザーガイド・アーカイブ
13. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPユーザーガイドの改訂履歴
3.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: 概要
3.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのシーケンサー
3.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのキャリブレーション
3.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのコントローラー
3.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるユーザーが要求するリセット
3.6. ハード・プロセッサー・サブシステム向け Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF
3.7. ハードPHYでのカスタム・コントローラーの使用
3.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oサブシステム
3.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/O SSM
3.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oバンク
3.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oレーン
3.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: 入力DQSクロックツリー
3.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: PHYクロックツリー
3.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: PLLリファレンス・クロック・ネットワーク
3.1.8. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: クロックの位相アライメント
3.3.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
3.3.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
3.3.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
3.3.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
4.1.1.1. DDR4のlocal_reset_req
4.1.1.2. DDR4のlocal_reset_status
4.1.1.3. DDR4のpll_ref_clk
4.1.1.4. DDR4のpll_locked
4.1.1.5. DDR4のac_parity_err
4.1.1.6. DDR4のoct
4.1.1.7. DDR4のmem
4.1.1.8. DDR4のstatus
4.1.1.9. DDR4のafi_reset_n
4.1.1.10. DDR4のafi_clk
4.1.1.11. DDR4のafi_half_clk
4.1.1.12. DDR4のafi
4.1.1.13. DDR4のemif_usr_reset_n
4.1.1.14. DDR4のemif_usr_clk
4.1.1.15. DDR4のctrl_amm
4.1.1.16. DDR4のctrl_amm_aux
4.1.1.17. DDR4のctrl_auto_precharge
4.1.1.18. DDR4のctrl_user_priority
4.1.1.19. DDR4のctrl_ecc_user_interrupt
4.1.1.20. DDR4のctrl_ecc_readdataerror
4.1.1.21. DDR4のctrl_ecc_status
4.1.1.22. DDR4のctrl_mmr_slave
4.1.1.23. DDR4のhps_emif
4.1.1.24. DDR4のemif_calbus
4.1.1.25. DDR4のemif_calbus_clk
4.1.2.1. QDR-IVのlocal_reset_req
4.1.2.2. QDR-IVのlocal_reset_status
4.1.2.3. QDR-IVのpll_ref_clk
4.1.2.4. QDR-IVのpll_locked
4.1.2.5. QDR-IVのoct
4.1.2.6. QDR-IVのmem
4.1.2.7. QDR-IVのstatus
4.1.2.8. QDR-IVのafi_reset_n
4.1.2.9. QDR-IVのafi_clk
4.1.2.10. QDR-IVのafi_half_clk
4.1.2.11. QDR-IVのafi
4.1.2.12. QDR-IVのemif_usr_reset_n
4.1.2.13. QDR-IVのemif_usr_clk
4.1.2.14. QDR-IVのctrl_amm
4.1.2.15. QDR-IVのemif_calbus
4.1.2.16. QDR-IVのemif_calbus_clk
4.4.1. ctrlcfg0
4.4.2. ctrlcfg1
4.4.3. dramtiming0
4.4.4. sbcfg1
4.4.5. caltiming0
4.4.6. caltiming1
4.4.7. caltiming2
4.4.8. caltiming3
4.4.9. caltiming4
4.4.10. caltiming9
4.4.11. dramaddrw
4.4.12. sideband0
4.4.13. sideband1
4.4.14. sideband4
4.4.15. sideband6
4.4.16. sideband7
4.4.17. sideband9
4.4.18. sideband11
4.4.19. sideband12
4.4.20. sideband13
4.4.21. sideband14
4.4.22. dramsts
4.4.23. niosreserve0
4.4.24. niosreserve1
4.4.25. sideband16
4.4.26. ecc3: ECCエラーおよび割り込みのコンフィグレーション
4.4.27. ecc4: ステータスとエラー情報
4.4.28. ecc5: 最新のSBEまたはDBEのアドレス
4.4.29. ecc6: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレス
4.4.30. ecc7: 最新のSBEまたはDBEのアドレスの拡張
4.4.31. ecc8: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレスの拡張
6.1. Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IPのパラメーターの説明
6.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズExternal Memory Interfaces Intel Calibration IPのパラメーター
6.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF DDR4 IPにおけるレジスターマップのIP-XACTのサポート
6.4. Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IPのピンおよびリソースのプランニング
6.5. DDR4ボードのデザイン・ガイドライン
6.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: General
6.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Memory
6.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem I/O
6.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: FPGA I/O
6.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem Timing
6.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Controller
6.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Diagnostics
6.1.8. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Example Designs
7.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: General
7.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Memory
7.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: FPGA I/O
7.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Mem Timing
7.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Controller
7.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズ EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Diagnostics
7.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Example Designs
11.1. インターフェイスのコンフィグレーションにおける性能の問題
11.2. 機能的な問題の評価
11.3. タイミング問題の特徴
11.4. Signal Tapロジック・アナライザーでのメモリーIPの検証
11.5. ハードウェアのデバッグ・ガイドライン
11.6. ハードウェアの問題の分類
11.7. 外部メモリー・インターフェイス・デバッグ・ツールキットを使用したデバッグ
11.8. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターの使用
11.9. コンフィグレーション可能なトラフィック・ジェネレーター (TG2) の使用
11.10. EMIFオンチップ・デバッグ・ポート
11.11. Efficiency Monitor
11.7.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
11.7.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
11.7.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
11.7.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
インテルのみ表示可能 — GUID: qrr1583025538792
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7.3.3.1. Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IPのバンク
Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズ外部メモリー・インターフェイスのピンを選択する前に、単一のインターフェイスを形成するバンクとサブバンクのグループ化について理解することが重要です。
次の図は、すべてのバンクがピンにボンディングされている標準的な Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズを表しています。
図 149. すべてのバンクがボンディングされている標準的な Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズ
上の図において、左上隅の4レーンのグループ (バンク3Aの上側サブバンク) は、テストモードとAVSTコンフィグレーションに使用されるIO48ブロックを表しています。このサブバンクのすべてのI/Oレーンがコンフィグレーションに使用される場合、このバンクを外部メモリー・インターフェイスに使用することはできません。同様に、バンク3Aの下側サブバンクも外部メモリー・インターフェイスに使用することはできません。これは、特定のインターフェイスにおいてすべてのI/Oサブバンクは連続している必要があるためです。
上の図の赤い線は、外部メモリー・インターフェイスを形成するサブバンクのチェーン順序を示しています。ジッパーを横切ると、チェーン順序は反転します。
詳細は、 Intel Agilex® 7 FPGA EMIF IP - 製品アーキテクチャーの章を参照してください。