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1. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPについて
2. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – 概要
3. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - 製品アーキテクチャー
4. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - エンドユーザーの信号
5. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – メモリーIPのシミュレーション
6. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – DDR4のサポート
7. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – QDR-IVのサポート
8. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – タイミング・クロージャー
9. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – I/Oのタイミング・クロージャー
10. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP – コントローラーの最適化
11. Agilex™ 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IP - デバッグ
12. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPユーザーガイド・アーカイブ
13. 外部メモリー・インターフェイス Agilex™ 7 FシリーズおよびIシリーズFPGA IPユーザーガイドの改訂履歴
3.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: 概要
3.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのシーケンサー
3.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのキャリブレーション
3.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのコントローラー
3.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるユーザーが要求するリセット
3.6. ハード・プロセッサー・サブシステム向け Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF
3.7. ハードPHYでのカスタム・コントローラーの使用
3.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oサブシステム
3.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/O SSM
3.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oバンク
3.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: I/Oレーン
3.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: 入力DQSクロックツリー
3.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: PHYクロックツリー
3.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: PLLリファレンス・クロック・ネットワーク
3.1.8. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIFのアーキテクチャー: クロックの位相アライメント
3.3.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
3.3.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
3.3.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
3.3.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
3.3.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
4.1.1.1. DDR4のlocal_reset_req
4.1.1.2. DDR4のlocal_reset_status
4.1.1.3. DDR4のpll_ref_clk
4.1.1.4. DDR4のpll_locked
4.1.1.5. DDR4のac_parity_err
4.1.1.6. DDR4のoct
4.1.1.7. DDR4のmem
4.1.1.8. DDR4のstatus
4.1.1.9. DDR4のafi_reset_n
4.1.1.10. DDR4のafi_clk
4.1.1.11. DDR4のafi_half_clk
4.1.1.12. DDR4のafi
4.1.1.13. DDR4のemif_usr_reset_n
4.1.1.14. DDR4のemif_usr_clk
4.1.1.15. DDR4のctrl_amm
4.1.1.16. DDR4のctrl_amm_aux
4.1.1.17. DDR4のctrl_auto_precharge
4.1.1.18. DDR4のctrl_user_priority
4.1.1.19. DDR4のctrl_ecc_user_interrupt
4.1.1.20. DDR4のctrl_ecc_readdataerror
4.1.1.21. DDR4のctrl_ecc_status
4.1.1.22. DDR4のctrl_mmr_slave
4.1.1.23. DDR4のhps_emif
4.1.1.24. DDR4のemif_calbus
4.1.1.25. DDR4のemif_calbus_clk
4.1.2.1. QDR-IVのlocal_reset_req
4.1.2.2. QDR-IVのlocal_reset_status
4.1.2.3. QDR-IVのpll_ref_clk
4.1.2.4. QDR-IVのpll_locked
4.1.2.5. QDR-IVのoct
4.1.2.6. QDR-IVのmem
4.1.2.7. QDR-IVのstatus
4.1.2.8. QDR-IVのafi_reset_n
4.1.2.9. QDR-IVのafi_clk
4.1.2.10. QDR-IVのafi_half_clk
4.1.2.11. QDR-IVのafi
4.1.2.12. QDR-IVのemif_usr_reset_n
4.1.2.13. QDR-IVのemif_usr_clk
4.1.2.14. QDR-IVのctrl_amm
4.1.2.15. QDR-IVのemif_calbus
4.1.2.16. QDR-IVのemif_calbus_clk
4.4.1. ctrlcfg0
4.4.2. ctrlcfg1
4.4.3. dramtiming0
4.4.4. sbcfg1
4.4.5. caltiming0
4.4.6. caltiming1
4.4.7. caltiming2
4.4.8. caltiming3
4.4.9. caltiming4
4.4.10. caltiming9
4.4.11. dramaddrw
4.4.12. sideband0
4.4.13. sideband1
4.4.14. sideband4
4.4.15. sideband6
4.4.16. sideband7
4.4.17. sideband9
4.4.18. sideband11
4.4.19. sideband12
4.4.20. sideband13
4.4.21. sideband14
4.4.22. dramsts
4.4.23. niosreserve0
4.4.24. niosreserve1
4.4.25. sideband16
4.4.26. ecc3: ECCエラーおよび割り込みのコンフィグレーション
4.4.27. ecc4: ステータスとエラー情報
4.4.28. ecc5: 最新のSBEまたはDBEのアドレス
4.4.29. ecc6: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレス
4.4.30. ecc7: 最新のSBEまたはDBEのアドレスの拡張
4.4.31. ecc8: 最新のドロップされた訂正コマンドのアドレスの拡張
6.1. Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IPのパラメーターの説明
6.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズExternal Memory Interfaces Intel Calibration IPのパラメーター
6.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF DDR4 IPにおけるレジスターマップのIP-XACTのサポート
6.4. Intel Agilex® 7 FPGA FシリーズおよびIシリーズEMIF IPのピンおよびリソースのプランニング
6.5. DDR4ボードのデザイン・ガイドライン
6.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: General
6.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Memory
6.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem I/O
6.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: FPGA I/O
6.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Mem Timing
6.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Controller
6.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Diagnostics
6.1.8. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: Example Designs
7.1.1. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: General
7.1.2. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Memory
7.1.3. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: FPGA I/O
7.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Mem Timing
7.1.5. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Controller
7.1.6. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズ EMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Diagnostics
7.1.7. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるQDR-IVのパラメーター: Example Designs
11.1. インターフェイスのコンフィグレーションにおける性能の問題
11.2. 機能的な問題の評価
11.3. タイミング問題の特徴
11.4. Signal Tapロジック・アナライザーでのメモリーIPの検証
11.5. ハードウェアのデバッグ・ガイドライン
11.6. ハードウェアの問題の分類
11.7. 外部メモリー・インターフェイス・デバッグ・ツールキットを使用したデバッグ
11.8. デフォルトのトラフィック・ジェネレーターの使用
11.9. コンフィグレーション可能なトラフィック・ジェネレーター (TG2) の使用
11.10. EMIFオンチップ・デバッグ・ポート
11.11. Efficiency Monitor
11.7.4.3.1. キャリブレーション・レポートの情報を使用してのキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.2. アドレスおよびコマンドのレベリング・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.3. アドレスおよびコマンドのデスキューエラーのデバッグ
11.7.4.3.4. DQSイネーブルエラーのデバッグ
11.7.4.3.5. 読み出しのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.6. VREFINキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.7. LFIFOキャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.8. 書き込みレベリングエラーのデバッグ
11.7.4.3.9. 書き込みのデスキュー・キャリブレーション・エラーのデバッグ
11.7.4.3.10. VREFOUTキャリブレーション・エラーのデバッグ
インテルのみ表示可能 — GUID: lhs1597768780946
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6.1.4. Intel Agilex® 7 FシリーズおよびIシリーズEMIF IPにおけるDDR4のパラメーター: FPGA I/O
Hyperlynx* または同様のシミュレーターを使用し、ボードに最適な設定を決定します。その他の情報に関しては、EMIFシミュレーション・ガイダンスのwikiページを参照してください。
表示名 | 詳細 |
---|---|
Voltage | メモリーデバイスとFPGAメモリー・インターフェイス間の信号を駆動するI/Oピンの電圧レベルです。(識別子: PHY_DDR4_IO_VOLTAGE) |
Use default I/O settings | I/O設定の正当なセットを自動的に選択することを指定します。デフォルトのI/O設定は、特定のボードに対してかならずしも最適化されているとは限りません。最適なシグナル・インテグリティーを実現するには、IBISモデルでI/Oのシミュレーションを実行し、シミュレーションの結果に基づきI/Oの設定を手動で入力します。(識別子: PHY_DDR4_DEFAULT_IO) |
表示名 | 詳細 |
---|---|
I/O standard | メモリー・インターフェイスのアドレス/コマンド・ピンにI/O電気規格を指定します。選択したI/O Standardにより、I/Oバッファー内の回路を業界標準に一致するようにコンフィグレーションします。(識別子: PHY_DDR4_USER_AC_IO_STD_ENUM) |
Output mode | このパラメーターでは、選択したI/O Standardの電流ドライブ強度または終端設定を変更することができます。IBISモデルでボード・シミュレーションを実行し、デザインに最適な設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_AC_MODE_ENUM) |
Slew rate | メモリーバスのデータ出力ピンのスルーレートを指定します。スルーレート (またはエッジレート) は、信号が遷移できる速度を示すもので、単位時間あたりの電圧で測定されます。ボード・シミュレーションを実行し、メモリーの受信側で測定される、データバスのピンに最適なアイ開口を提供するデータ出力のスルーレートを決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_OUT_SLEW_RATE_ENUM) |
Deemphasis mode | アドレス/コマンド出力ピンのデエンファシス・モードを指定します。デエンファシス・モードは、出力バッファーの個々のドライバーステージを有効にする速度を制御します。この設定を調整すると、レシーバーにおける電圧のオーバーシュート制御につながります。ボード・シミュレーションを実行し、アドレス信号とコマンド信号に最適なアイ開口を提供するデエンファシス設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_AC_DEEMPHASIS_ENUM) |
表示名 | 詳細 |
---|---|
I/O standard | メモリー・クロック・ピンのI/O電気規格を指定します。選択したI/O Standardにより、I/Oバッファー内の回路を業界標準に一致するようにコンフィグレーションします。(識別子: PHY_DDR4_USER_CK_IO_STD_ENUM) |
Output mode | このパラメーターでは、選択したI/O Standardの電流ドライブ強度または終端設定を変更することができます。IBISモデルでボード・シミュレーションを実行し、デザインに最適な設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_CK_MODE_ENUM) |
Slew rate | メモリーバスのデータ出力ピンのスルーレートを指定します。スルーレート (またはエッジレート) は、信号が遷移できる速度を示すもので、単位時間あたりの電圧で測定されます。ボード・シミュレーションを実行し、メモリーの受信側で測定される、データバスのピンに最適なアイ開口を提供するデータ出力のスルーレートを決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_OUT_SLEW_RATE_ENUM) |
Deemphasis mode | メモリー・クロック・ピンのデエンファシス・モードを指定します。デエンファシス・モードは、出力バッファーの個々のドライバーステージを有効にする速度を制御します。この設定を調整すると、レシーバーにおける電圧のオーバーシュート制御につながります。ボード・シミュレーションを実行し、メモリークロック信号に最適なアイ開口を提供するデエンファシス設定を決定します。 (識別子: PHY_DDR4_USER_CK_DEEMPHASIS_ENUM) |
表示名 | 詳細 |
---|---|
I/O standard | メモリー・インターフェイスのデータおよびデータ・クロック/ストローブ・ピンのI/O電気規格を指定します。選択したI/O Standardのオプションにより、I/Oバッファー内の回路を業界標準に一致するようにコンフィグレーションします。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_IO_STD_ENUM) |
Output mode | このパラメーターでは、選択したI/O Standardの出力電流ドライブ強度または終端設定を変更することができます。IBISモデルでボード・シミュレーションを実行し、デザインに最適な設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_OUT_MODE_ENUM) |
Slew rate | メモリーバスのデータ出力ピンのスルーレートを指定します。スルーレート (またはエッジレート) は、信号が遷移できる速度を示すもので、単位時間あたりの電圧で測定されます。ボード・シミュレーションを実行し、メモリーの受信側で測定される、データバスのピンに最適なアイ開口を提供するデータ出力のスルーレートを決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_OUT_SLEW_RATE_ENUM) |
Deemphasis mode | メモリーバスのデータ出力ピンのデエンファシス・モードを指定します。デエンファシス・モードは、出力バッファーの個々のドライバーステージを有効にする速度を制御します。この設定を調整すると、レシーバーにおける電圧のオーバーシュート制御につながります。ボード・シミュレーションを実行し、メモリーの受信側で測定される、データバスのピンに最適なアイ開口を提供するデエンファシス設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_OUT_DEEMPHASIS_ENUM) |
Input mode | このパラメーターでは、選択したI/O Standardの入力終端設定を変更することができます。IBISモデルでボード・シミュレーションを実行し、デザインに最適な設定を決定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_DATA_IN_MODE_ENUM) |
Use recommended initial Vrefin | 初期のVrefin設定を終端設定に基づき適切な値に自動的に計算することを指定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_AUTO_STARTING_VREFIN_EN) |
Initial Vrefin | データピンの基準電圧の初期値 (Vrefin) を指定します。この値は、I/Oピンの供給電圧レベルのパーセンテージとして入力されます。指定された値は開始点として機能し、より良いタイミングマージンを提供するためにキャリブレーションで上書きされる場合があります。skip Vref calibration (Diagnosticsタブ) を選択している場合に、この値はインターフェイスのVrefとして使用されます。(識別子: PHY_DDR4_USER_STARTING_VREFIN) |
表示名 | 詳細 |
---|---|
PLL reference clock I/O standard | メモリー・インターフェイスのPLLリファレンス・クロックにI/O Standardを指定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_PLL_REF_CLK_IO_STD_ENUM) |
RZQ I/O standard | メモリー・インターフェイスで使用されるRZQピンにI/O Standardを指定します。(識別子: PHY_DDR4_USER_RZQ_IO_STD_ENUM) |