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1. 概要
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インテル® Stratix® 10 デバイスは、IEEE Std. 1149.1 BSTとIEEE Std. 1149.6 BSTをサポートします。バウンダリー・スキャン・テスト(BST)を実行する際、物理的なテストプローブを使用せずにピン接続をテストし、通常動作中に機能データをキャプチャーすることができます。デバイスのバウンダリー・スキャン・セル(BSC)は、ピンに信号を強制したり、ピンあるいはコアロジック信号からデータをキャプチャーすることができます。強制されたテストデータは、順にBSCへとシフトインします。キャプチャーされたデータは、順にシフトアウトし、外部で期待値と比較されます。
インテル® Stratix® 10 デバイスは複数のダイを使用してパッケージに実装されており、エンベデッド・マルチダイ・インターコネクト・ブリッジ(EMIB)テクノロジーにより結合されています。このマルチダイの実装はBSTに対して等価的です。デバイスに対して単一のバウンダリー・スキャン・チェインが存在し、これにはパッケージ内のすべてのダイが含まれます。
BSTは、インテル® Stratix® 10 デバイスのコンフィグレーション実行前と実行後だけでなく、コンフィグレーションの実行中にも実行することができます。