インテルのみ表示可能 — GUID: sss1438252072452
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7. IEEE Std. 1149.1 BSTのガイドライン
IEEE Std. 1149.1デバイスでBSTを実行する際には、以下のガイドラインを考慮します。
- SHIFT_IR ステートで、インストラクション・レジスターからシフトアウトされる最初の2ビットが1でなく、0の場合、TAPコントローラーが適切なステートに達しなかったことを意味します。この問題を解決するには、以下の手順のいずれかを実行します。
- TAPコントローラーが適切に SHIFT_IR ステートに入ったことを確認します。TAPコントローラーを SHIFT_IR ステートに進めるには、TEST-LOGIC-RESETステートに戻り、 01100 コードをTMSピンに送ります。
- デバイスのVCC、GND、JTAGならびに専用コンフィグレーション・ピンとの接続を確認します。
- 最初のEXTESTテストサイクルの前に SAMPLE/PRELOAD テストサイクルを実行して、EXTESTモードに入る時点でデバイスピンに確実に既知のデータを存在させます。OEJアップデート・レジスターに0が含まれていれば、OUTJアップデート・レジスターのデータが出力駆動されます。システムの他のデバイスとの衝突を避けるためには、ステートが既知であり、精確でなければいけません。
- in-circuitリコンフィグレーション中のEXTESTはサポートされていないため、in-circuitリコンフィグレーション時にEXTESTテストは実行しないでください。
- コンフィグレーション後は、差動ピンペアのいずれのピンもテストすることができません。コンフィグレーション後にBSTを実行するには、これらの差動ピンペアに対応するBSCグループを内部セルとして編集、再定義します。