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ダウンタイムを最小限に抑えることの重要性を認識したインテルは、ノードをオフラインにすることなく、処理コアの高速テストを可能にするプロセッサー機能であるインテル® In-Field Scan を開発しました。このホワイトペーパーでは、インテルのフィールド内スキャンと、プロセッサーのテスト頻度に関する重要な考慮事項について説明します。